Галогениды щелочных металлов

Таблица 14. Тепловые эффекты реакций образования некоторых галогенидов щелочных металлов, ,98 кДж/моль

Таблица 12. Температура плавления некоторых галогенидов щелочных металлов

В табл. XII.5 не включено большое число литературных данных по реакциям атомов щелочных металлов с галоидами и галогенидами щелочных металлов [58—60], полученных Поляни методом диффузионных пламен . Причиной этого явилось то, что данные по этим реакциям не могут быть использованы для непосредственного расчета значения абсолютных констант скорости и энергий активации. Кроме того, необходимо сделать допущения относительно кинетики перекрестных реакций и констант диффузии. Рид и Рабинович [61] дали прекрасный анализ этого метода. Интересно отметить, что все экспериментальные данные по этим системам согласуются, если предположить, что стерические множители лежат в пределах от 0,1 до 1. [c.263]

По природе связей между атомами твердые тела делят тоже на две группы ионные, к которым относятся полупроводники и изоляторы, и ковалентные, включающие металлы. К ионным твердым телам относят вещества с большой долей ионной связи—типа галогенидов щелочных металлов, а также некоторые тела, у которых ионность невелика и преобладают ковалентные связи. Общим для них является изменение электрических свойств — от свойств, типичных для изоляторов, до свойств, проявляющихся у полупроводников. Такие вещества связывают адсорбат посредством электронной пары либо за счет проявления полярности. К ковалентным твердым телам помимо металлов относят элементарные полупроводники и отдельные полупроводниковые соединения. Объединяет их способность связывать адсорбат за счет свободных связей. [c.180]

Необходимо отметить, что даже в галогенидах щелочных металлов, образующихся из атомов, наиболее сильно отличающихся по электроотрицательности, не существует, идеальной ( стопроцентной ) ионной связи. [c.111]

Иногда процесс рекомбинации атомов на поверхности твердых тел является типичным гетерогенным процессом. Это проявляется в том, что скорость рекомбинации существенно зависит от химической природы поверхности. Например, наличие мономолекулярного слоя воды на поверхности кварца и стекла значительно затрудняет рекомбинацию атомов водорода и кислорода, галогениды щелочных металлов затрудняют рекомбинацию атомов хлора. На гетерогенность процесса указывает и зависимость скорости рекомбинации атомов от температуры. Понижение температуры поверхности часто способствует рекомбинации (например, рекомбинация атомов водорода с по нижением температуры ускоряется). [c.87]

Рис. XVI, 3. Средние коэффициенты активности соляной и бромистоводородной кислот в растворах галогенидов щелочных металлов при 25° С.

Из атомов элементов главных подгрупп обычно получаются ноны, имеющие конфигурацию атомов благородных газов. Химическую связь в молекулах и кристаллах, состоящих пз ионов, называют ионной. Примерами веществ с ионной связью являются галогениды щелочных металлов. В дальнейшем мы увидим, что полный переход электронов от одного атома к другому никогда не происходит, следовательно, 100%-ой ионной связи не бывает. [c.68]

Оказалось, что данная закономерность имеет общее значение. В этом можно убедиться, сравнив ширину запрещенной зоны в энергетических спектрах галогенидов щелочных металлов, которые служат основой для щелочно-галогенидных фосфоров, и в энергетических спектрах галогенидов меди, серебра,.ртути, галлия, индия, таллия — их активаторов. Становится понятным, почему [c.124]

Наличие максимумов на кривых зависимости температуры плавления от молекулярной массы для галогенидов щелочных металлов становится понятным, если учесть ослабление поляризующего действия катионов в ряду Li+ — Na+ — К+ — Rb+ — s+ и усиление поляризуемости в ряду F — 1 — Вг — I-. [c.114]

Средние теплоемкости некоторых галогенидов щелочных металлов в состоянии идеального газа и их отношения при одинаковых температурах, [c.115]

Величина [ПИ(Ме) — СЭ(Х)1 положительна для всех без исключения галогенидов щелочных металлов и согласно (30.5) 0 С, Поэтому ионные молекулы в основном состоянии всегда диссоциируют на атомы, а не на ионы. [c.91]

Таблица В.1. Некоторые характеристики ионных соединений и их механические и термические свойства (на примере галогенидов щелочных металлов)

Свойства красный или коричневый порошок, Гпл = 678°С, нерастворим в большинстве растворителей, растворим в водных растворах галогенидов щелочных металлов Приготовление [514] [c.62]

При необходимости измерить излучение газа источник в верхней части рисунка не включается, верхний прерыватель также выключен и открыт, а нижний работает. Тогда для изотермического газа преобразованный сигнал соответствует (1—е < )/ , (Г , v). Для предохранения окон ячейки (которые также изготовляют из кристаллов солей галогенидов щелочных металлов) от воздействия высоких температур и химически активных газов используют изотермическую диагностическую ячейку, изображенную на рисунке. Исследуемый газ удерживается тяжелым прозрачным инертным газом, который в свою очередь отжимается легким прозрачным инертным газом (гелием). [c.486]

Сложнее получить ИК-спектр раствора вещества, которое растворимо только в полярных растворителях, поскольку эти растворители имеют меньше областей, пропускающих ИК-излучение (табл. 20). Значительные трудности возникают при необходимости снять ИК-спектр водных растворов. Вода сильно поглощает ИК-излучение, особенно в областях 1630 и 3710 см , и для снятия спектров водных растворов требуются тонкие кюветы. Кроме того, здесь неприменимы обычно использующиеся для изготовления кювет галогениды щелочных металлов. Для снятия спектров водных растворов используют тонкие (около 0,01 мм) кюветы, окна которых изготовлены из флюорита, хлорида серебра или других нерастворимых в воде и прозрачных для ИК-лучей веществ. Можно записывать спектры растворов, содержащих не более 20% воды (или метанола) и в обычных кюветах, но при этом необходимо часто полировать соляные окошки. [c.208]

На основании анализа реакций, рассмотренных в упражнениях I, 6, 7, 8, объясните, почему ряд нерастворимых в воде оксидов, гидроксидов, галогенидов, цианидов растворяется в растворах соответственно гидроксидов, цианидов, галогенидов щелочных металлов. [c.143]

Галогенид щелочного металла [c.116]

Мерой силы электростатического взаимодействия ионов в кристалле служит энергия решетки (разд. 6.4.2), которая растет с увеличением заряда ионов и с уменьшением расстояния между ними (суммы ионных радиусов). В табл. В.1 на примере галогенидов щелочных металлов показана взаимосвязь энергии решетки, механических и термических свойств веществ. [c.349]

Ионная связь. Связь такого типа осуществляется в результате взаимного электростатического притяжения противоположно заряженных ионов. Ионы могут быть простыми, т. е. состоящими из одного атома (например, катионы Ма+, К , анионы Р , С1") или сложными, т. е. состоящими из двух или более атомов (напрнмер, катион ЫН , анионы ОН, N03, 504 ). Простые ионы, обладающие положительным зарядом, легче всего образуются из атомов элементов с низким нотеициалом ионизации к таким элементам относятся металлы главных подгрупп I и II группы (см. табл. 4 и 5 на стр. 102). Образование простых отрицательно заряженных ионов, напротив, характерно для атомов типичных неметаллов, обладающих большим сродством к электрону. Поэтому к типичным соединениям с ионным типом связи относятся галогениды щелочных металлов, например, МаС1, СзР и т. п. [c.150]

Такой же механизм имеет и индуцируемое излучением освобождение валентного электрона из анионной решетки галогенидов щелочных металлов, что является причиной образования окрашенных центров (голубая каменная соль). [c.435]

Структурные типы Na i и s l довольно широко распростра-н ны среди неорганических веществ, в частности структуры всех галогенидов щелочных металлов принадлежат к этнм типам. [c.148]

Для перевода в ацетаты галогениды щелочных металлов перед титрованием обрабатывают ацетатом ртути, фториды — ацетатом кальция, сульфаты — ацетатом бария. [c.346]

ВИРИРОВАНИЕ ФОТОГРАФИЧЕСКОЕ (тонирование) — превращение черно-белого серебряного изображения в окрашенное с художественной целью или для увеличения плотности и контрастности изображения. В. ф. осуществляют превращением серебра в окрашенное соединение заменой серебра другим металлом, осаждением на серебре соединений другого металла, окрашиванием серебра красителем, изменением дисперсности серебра. Для осуществления В. ф. изображение сначала отбеливают раствором окислителя и галогенида щелочного металла. Образовавшийся галогенид серебра обрабатывают растворами сульфидов для окрашивания изображения в желто-коричневый цвет заменяют серебро золотом, платиной, ураном, свинцом, ванадием и др. Цветовой оттенок зависит от дисперсности серебра, температуры тонирующего раствора, продолжительности обработки. [c.54]

Какой тип химической связи преимущественно имеет место в молекулях галогеноводородов, галогенидов щелочных металлов и оксидов галогенов [c.131]

В спектроскопии ЭПР имеется также круг объектов, которые представляют собой простейшие парамагнитные центры — электроны или дырки в твердых телах или растворах. Это могут быть, например, захваченные электроны в кристаллах, в частности различных галогенидов щелочных металлов, называемые f-центрами. При нагревании кристалла, например LiF, в присутствии паров металла и последующего быстрого охлаждения образуется вакансия аниона, занимаемая электроном, т, е. f-центр. Система имеет характерную окраску, обусловленную f-полосой поглощения в видимой области оптического спектра, а в спектре ЭПР появляется широкая полоса i -центров в области чисто спинового значения -фактора. Ширина сигнала связана с перекрыванием линий сверхтонкой структуры, обусловленных взаимодействием с ядром окружающих катионов и в меньшей степени с ядрами анионов. Плотность захваченного электрона в основном локализуется на вакансии и мало размывается на окружение, хотя между вакансией и шестью окружающими ее катионами решетки идет конкуренция за электрон. Так, при увеличении размеров катиона и постоянном анионе (вакансии) s-характер электронной плотности на шести ближайших катионах возрастает, а при одном и том же катионе и увеличении размеров аниона (от F к С1 ) 5-характер электронной плотности на катионах убывает. Существуют и некоторые другие электронно-избыточные центры и предложены различные теоретические модели их описания. [c.76]

Когда на кристаллы галогенидов щелочных металлов воздействуют излучением высоких энергий, кроме / -центров могут образоваться также электронно-дефицитные У-центры (дырки). [c.76]

Величина (ПИ(Ме) — СЭ(Х)1 положительна для всех без исключения галогенидов щелочных металлов и согласно (30.5) [c.91]

Измерения С, ф-кривых в расплавах различных галогенидов щелочных металлов позволяют разделить эти соли на две группы по их влиянию на емкость двойного слоя. В расплавах солей лития и натрия емкость велика, сильно зависит от природы аниона и существенно возрастает с температурой, а в расплавах солей калия и цезия емкость относительно мала и слабо зависит от природы аниона и температуры. Такую зависимость емкости от природы соли можно понять, если учесть что анионы галогенов С1" и Вг имеют больший объем, чем катионы и Na . Поэтому в расплавах солей лития и натрия существует значительное отталкивание между анионами, которое определяет особенности структуры таких расплавов, а именно катионы располагаются свободно в октаэдрических дырках, образованных более или менее плотно упакованными анионами. Для галогенидов калия и цезия роль взаимного отталкивания анионов не существенна, так как ионные радиусы этих катионов и анионов галогенов близки. Поэтому в структуре расплава ионы разного знака занимают более равноправное положение. [c.146]

На рис. XVI, 3 показана величина lgYI Для соляной и бромистоводородной кислот в растворах галогенидов щелочных металлов. Для одно-одновалентных электролитов 5= 1 и [c.402]

В обычных условиях решетку типа хлорида цезия имеют s l, sBr и sl, остальные галогениды щелочных металлов имеют структуру типа Na l. [c.148]

Ионные кристаллы. Рассмотрим сначала соединения из двух элементов, обладающие формулой типа АВ. Для таких ионных соединений наиболее распространенным является знакомый нам по Na l тип решетки, называемый простой кубической решеткой. В решетке этого типа кристаллизуются в обычных условиях почти все галогениды щелочных металлов и большая часть окислов, сульфидов, селенидов и теллуридов щелочноземельных металлов. Близка к ней объемно-центрированная кубическая решет- [c.129]

СзаГг- В работе был произведен расчет молекулярных параметров для ромбической модели димерных молекул М2Г2 галогенидов щелочных металлов и их термодинамических функций до 3000 К. [c.466]

Хр Волновая функция, приближенно описывающая два связе-вых электрона молекулы 1МаР фыар — Хр (1)хр (2), указывает, что оба они движутся в поле ядра фтора. В результате вокруг ядра фтора сосредотачивается избыточный электрический заряд, практически равный единице в то же время в силу электронейтральности молекулы ядро натрия оказывается центром равного по величине положительного заряда. Приближенно это положение может быть описано электростатической теорией ирнной связи как перенос электрона от атома натрия к атому фтора с образованием ионов N3+ и Р", удерживаемых в молекуле электростатическими силами притяжения. В этом смысле предельное состояние связи при очень высокой полярности может быть названо ионной связью. Такого рода связь возникает в молекулах галогенидов щелочных металлов. [c.90]

На рис. 3 представлен пример экспериментальной установки, В нижней части рисунка показана детекторная система малого разрешения, основой которой является призма из кристалла галогенида щелочного металла (Na l, КВг), разворачивающая попадающее на входную щель излучение в инфракрасную радугу . Выходная щель вырезает инфракрасное излучение требуемой длины волны для последующего преобразования при помощи термопары. Попадающее на термопару излучение имеет постоянную составляющую, формируемую тепловым излучением полости монохроматора, и флуктуирующую составляющую, проходящую через входную щель. Флуктуирующая составляющая возникает в результате прерывания по- [c.486]

Для группового концентрирования можио использовать смесь экстрагентов. Например, при анализе галогенидов щелочных металлов высокой чистоты экстрагируют 18 микроэлементов смесью купферона, диэтилдитиокарбамината натрия и триоктил-фосфиноксида, экстракт упаривают на угольном порошке и анализируют эмиссионным спектральным методом. [c.311]

Следует отметить, что химические связи в подавляющем большинстве молекул носят в значительной степени промежуточный (между двумя рассмотренными случаями) характер. Поэтому для описания характера химической связи весьма удобно использовать понятие степени ионности связи. Под степенью ионности связи подразумевают следующее насколько интенсивно валентные электроны одного из взаимодействующих атомов оттягиваются к другому при образовании молекулы. В гомо-нуклеарных молекулах, в которых связь предельно ковалентна, степень ионности равна нулю. Степень ионности связи возрастает с увеличением различий в химической природе взаимодействующих атомов и достигает максимального значечия в молекулах галогенидов щелочных металлов. [c.22]

Но даже в типичных ионных соединениях, например, в галогенидах щелочных металлов, не происходит полного разделения отрицательного и гюложите льного зарядов, т. е. полного перехода электрона от одного атома к другому. Например, в кристалле Na l эффективный отрицательный заряд атома хлора составляет около 0,9 заряда электрона таки.м же по абсолютной величине положительным зарядом обладает и атом натрия. [c.144]

Призма в монохроматоре должна быть прозрачной для дли1 волн в исследуемой части спектра, она изготавливается из кварца, если измеряют пропускание веществ в УФ и видимой областях спе <тра, из стекла для видимой области и из галогенидов щелочных металлов для ИК спектрофотометров [c.194]

А//Na l — (А//X 4 2 Ь 3 Ь А//4-f- Д б) = 772 кДж/моль. Учитывая данные по теплоемкости хлорида натрия, можно оценить произведение TAS, которое при 25°С составляет приблизительно 15 кДж/моль. Таким образом, для энергии кристаллической решетки Na l получаем АОмаа =757 кДж/моль, что хорошо согласуется с величиной, рассчитанной по формуле (II.6). В табл. 1 представлены данные по изменению энтальпии при разрушении кристаллических решеток ряда галогенидов щелочных металлов. [c.20]

Введение в современную теорию растворов (1976) -- [ c.88 , c.89 ]

Химия (1978) -- [ c.152 , c.154 ]

Общая химия (1979) -- [ c.351 ]

Катализ в неорганической и органической химии книга вторая (1949) -- [ c.93 , c.96 ]

Основы квантовой химии (1979) -- [ c.322 , c.323 ]

Правила симметрии в химических реакциях (1979) -- [ c.32 ]

Физико-химическая кристаллография (1972) -- [ c.77 , c.220 , c.249 , c.260 , c.393 ]

Общая химия (1974) -- [ c.165 ]

Применение спектров комбинационного рассеяния (1977) -- [ c.0 ]

Химия несовершенных ионных кристаллов (1975) -- [ c.0 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология