; ;

Уменьшение рассеяния от поверхности образцов

Аппаратура. Счетная установка типа Б или другого типа с торцовым счетчиком типа Т-25. Торцовый счетчик должен быть помещен в свинцовый домик , внутренняя поверхность которого облицована листовым алюминием для уменьшения фона от рассеянного бета-излучения и поглощения вторичных электронов. Для фиксирования телесного угла, при котором происходит измерение активности образца, непосредственно под счетчик помещается диафрагма с отверстием диаметром 16,5 мм. Толщина диафрагмы определяется энергией бета-излучения изотопа, активность которого измеряется и должна обеспечить полное поглощение частиц. [c.11]

Выражения (798) можно интерпретировать просто в терминах уменьшения средней длины свободного пробега (это явление обычно называют размерным эффектом) вследствие рассеяния на поверхности образца. Если предположить, что рассеяние на поверхности и релаксационные механизмы в объеме статистически независимы, то можно написать И = 1//о + где /о и 4 — средние длины свободного пробега соответственно при рассеянии в объеме и на поверхности. [c.492]

Уменьшение рассеяния от поверхности образцов [c.239]

В работе [17] была сделана попытка получения более качественных спектров молекул аммиака, адсорбированных алюмо-силикатным катализатором. С этой целью для уменьшения рассеяния образец после адсорбции аммиака заливался U (рис. 125). Было замечено, что аммиак, молекулярно адсорбированный алюмосиликагелем, не вытесняется с его поверхности молекулами ССЦ, хотя он легко удаляется путем откачки образца при комнатной температуре. Молекулярная адсорбция аммиака происходит при специфическом взаимодействии молекул ам- [c.314]

Метод прессования с солью получил широкое распространение при исследовании инфракрасных спектров твердых тел. В этом методе твердый образец смешивают с измельченной в порошок галоидной солью типа KJ или КВг и смесь прессуют под высоким давлением для получения тонких пластинок в форме диска [53—55]. Этим путем достигается уменьшение рассеяния света, поскольку поверхность раздела твердое тело — газ заменяется поверхностью раздела твердое тело — соль. При применении этого метода размеры частиц твердого тела не имеют существенного значения и самые обычные катализаторы на основе кремнезема или окиси алюминия могут быть использованы без необходимости сортировки материала по размерам. Хотя этот метод прост в экспериментальном отношении, он, вероятно, никогда не найдет широкого применения в работе с катализаторами, так как после введения образца в соль его нельзя подвергать дальнейшей обработке. [c.59]

Уменьшение рассеяния света на поверхности образцов [c.40]

Для возможности определения размеров дефектов необходимо, чтобы импульсы, отраженные от одинаковых по величине дефектов, но лежащих на разных глубинах в испытуемом образце, фиксировались на экране электроннолучевой трубки дефектоскопа в виде импульсов одинаковой величины. С этой целью коэффициент усиления усилителя дефектоскопа увеличивается обратно пропорционально затуханию ультразвуковых колебаний в металле, что достигается соответствующим изменением напряжения на экранной сетке одной из ламп усилителя. Этот закон изменения усиления для большинства изделий с мелкозернистой структурой является практически приемлемым ввиду незначительного влияния поглощения и рассеяния ультразвука за счет неоднородностей структуры металла. В этом случае главную роль играет уменьшение принятой ультразвуковой энергии вследствие расхождения, расширения ультразвукового пучка от излучателя (см. формулу (58)) и от рассеивающей поверхности дефекта. [c.92]

При физической или химической адсорбции молекул на компонентах образцов, т. е. металле или носителе, пропускание обычно уменьшается. Это явление связывают с увеличением рассеяния, вызванного изменениями в оптических свойствах поверхности раздела твердое тело — газ. Величина уменьшения пропускания довольно постоянна на всем протяжении изучаемой спектральной области и не вызывает серьезных трудностей, если только не делать попыток изучения широких [c.11]

Как известно, проведение температурных рентгенографических исследований в вакууме обладает рядом преимуществ, которые сводятся главным образом к исключению воздействия воздушной атмосферы на состояние поверхности изучаемого объекта и уменьшению интенсивности фона из-за рассеяния рентгеновских лучей на воздухе. Это в конечном счете приводит к повышению точности измерений интенсивности рассеянного рентгеновского излучения исследуемым образцом. Нами была сконструирована вакуумная камера, предназначенная для проведения рентгеновских исследований при низких и высоких температурах на дифрактометре типа УРС-50И. [c.172]

Таким образом, по-видимому, имеются три возможных процесса, которые могут вызвать уменьшение сцинтилляционной эффективности за счет поверхностных эффектов а) испускание или потеря на поверхности энергии возбуждения, которая достигает поверхности либо в виде экситонов, либо в виде фотонов б) тушение молекулами примесей в поверхностном слое и в) обратное рассеяние падающего ионизирующего излучения. Исследования чувствительности пластического сцинтиллятора NE 101 по отношению к внешним электронам дают возможность оценить относительную роль этих трех процессов [173]. Авторы сравнивают чувствительность образца в виде плоского диска с чувствительностью образца в виде цилиндра с углублением диаметром 3 мм и глубиной 12 мм, внутри которого фокусируются электроны из р-спектрометра. Сцинтилляционная чувствительность плоского образца меняется нелинейно при изменении энергии электронов Е при Е<. 120 кэв, линейная часть кривой чувствительности при более высоких значениях энергии при экстраполяции пересекается с координатной осью при значении Е = 29,6 кэв, соответствующем типичному поверхностному эффекту. С другой стороны, кривая чувствительности сцинтиллятора с углублением, линейная вплоть до энергии Е 20 кэв, при экстраполяции пересекается с осью при Е = 4,1 кэв. Таким образом, использование углубления, которое сводит к минимуму испускание на поверхности и обратное рассеяние, устраняет основную часть эффекта уменьшения эффективности флуоресценции за счет поверхностных явлений. Сделано заключение, что в NE 101 и, вероятно, в других органических сцинтилляторах основной [c.181]

Образцы. Образцы нельзя приготавливать в воде, поскольку она, как и органические растворители, очень сильно поглощает в инфракрасной области. Вода растворяет также почти все вещества, прозрачные в этой области спектра. Для уменьшения довольно большого фона, возникающего из-за рассеяния при снятии спектров поглощения в твердых порошках, приготавливают тонко размолотую пасту вещества в парафине или спрессованные диски в бромиде калия. В последнее время нашел применение другой способ снятия спектров, при котором уменьшают общее отражение. Он основан на законах отражения света на поверхности раздела между веществами с сильно различающимися коэффициентами преломления. Этот способ в последние годы значительно расширил область применения инфракрасной спектрофотометрии. Образец следует экранировать от источника света, чтобы его температура не увеличивалась больше, чем на 5°С в 1 ч. [c.164]

По мере того как электроны пучка движутся внутри образца, различные процессы неупругого рассеяния приводят к передаче энергии атомам и электронам твердого тела и уменьшению энергии электронов пучка. Типичные значения скоростей потери энергии, вычисленные на основе соотношения Бете (3.5), составляют по порядку величины 10 эВ/нм и зависят от энергии электрона (рис. 3.18). Электроны пучка, которые вылетают с поверхности образца в качестве отраженных электронов, выходят с меньшей энергией из-за прохождения некоторого расстояния внутри твердого тела. Графики распределения по энергии отраженных электронов в зависимости от нормированной энергии =Е1Ео для некоторых элементов показаны на рис. 3.19 [32]. Для легких элементов распределение имеет вид широкой плавной кривой, в то время как для тяжелых элементов наблюдает- [c.51]

Кривая 3 на рис. 115 относится к образцам, покрытым ртутной пленкой толщиной 0,5 мк, что соответствует концентрации 0,5 вес. %. Для монокристалла наблюдается уменьшение затухания, т. е. упрочнение (уменьшение подвижности колеблющихся дислокационных петель) вследствие объемного эффекта легирования. С ростом числа зерен в образце этот эффект становится менее заметным в связи с началом проявления рассеяния энергии по границам зерен. С увеличением толщины ртутного покрытия (до 2 мк на кривой 2 и до 5 жж на кривой 1, что соответствует весовым концентрациям ртути 2 и 5%) внутреннее трение монокристалла растет и достигает уровня неа-мальгамированного цинка, так как с увеличением количества ртути все отчетливее проявляется противоположное легированию пластифицирующее действие ртути, адсорбированной на поверхности образца. [c.227]

Однако рассеяние света образцами , представляющими собой да ке очень roHjaie порошки, остается значительным. Для уменьшения рассеяния света иногда применяется впрессовывание порошков в пластинки галогенидов ш,елочных металлов или же смачивание их четыреххлористым углеродом, прозрачным в широком интервале частот инфракрасного спектра, вазелиновым маслом, парафином или каким-либо другим смачивающим веществом. При этом всегда следует иметь в виду, что наличие дополнительного компонента (галогениды, четыреххлористый углерод и др.) может вызвать серьезные затруднения при изучении свойств поверхности порошка вследствие взаимодействия молекул дополнительного компонента с этой поверхностью или с молекулами адсорбированного соединения. [c.67]

Наконец, еше одно существенное возражение против метода расчета Ривлина и Томаса заключается в следующем. Если каким-го способом правильно найдена из опытных данных производная [д 1дс)1 , то связать ее с характеристической энергией, строго говоря, нельзя, так как эта производная в действительности определяет суммарное уменьшение упругой энергии в образце в процессе роста надреза. Упругая энергия расходуется ие только на образование новых поверхностей и связанное с этим рассеяние энергии, но и на дополнительные процессы разгрузки в объеме, окружающем надрез, учесть которые не представляется возможным. Так, на рис. 137 прямая 1 изображает зависимость от начальной длины надреза Сд той части упругой энергии образца, которая идет только на образование новой поверхности. Тангенс угла наклона прямой / есть характеристическая энергия раздира (см. стр. 228), рассчитанная, какэто часто делается, на 1 см удлинения надреза. Наклон этой прямой постоянен, в то время как производная дWlд (кривые 2 и 5), характеризующая суммарное изменение упругой энергии, меняется с с . [c.231]

Более регулярная ламелярная текстура таких образцов подтверждается детальным анализом данных по малоугловому рассеянию рентгеновских лучей (МУРРЛ) и по поглощению в продольном акустическом поле в сочетании с измерениями толщины кристаллов на травленых азотной кислотой поверхностях и с анализом продуктов распада ЛПЭ с помощью гель-проникающей хроматографии. Из этих данных следует вывод, что высокая степень вытяжки низкомолекулярных образцов с термической предысторией, соответствующей медленному охлаждению, обусловлена легкостью образования более регулярной ламелярной текстуры, уменьшением числа проходных цепей между ламелями благодаря оптимальной температурной обработке и сегрегацией низкомолекулярной фракции материала. [c.18]

Стандартные КР-кюветы, используемые как с ртутным, так и с лазерным возбуждением, и, некоторые их модификации представлены на рис. 1. Цилиндрические кюветы могут быть изготовлены без труда в большинстве случаев вполне удовлетворительным материалом служит пирексовое стекло. Окошко должно иметь плоскопараллельную поверхность, и его следует припаивать. В некоторых случаях для минимизации помех за счет флюоресценции стекла желательно изготовлять кюветы из плавленого кварца. Длина и диаметр кюветы определяются геометрией прибора. Для малых количеств образца кювета может быть изготовлена в виде толстостенной капиллярной трубки, особенно если надо сохранить большой диаметр. Однако в этом случае рассеяние от стекла будет причиной повышенного фона. Использование светопроводов (рис. 1,6) позволяет сочетать кювету малого объема и преимущества светопроводной техники, что очень удобно, поскольку передняя часть кюветы защищена от действия возбуждающего излучения. В случае образцов, сохраняемых под вакуумом, кювета может быть подсоединена к вакуумной системе, так что образец перегоняется и конденсируется непосредственно в кювете (рис. , в). Для уменьшения отражения света от задней стенки кюветы она должна быть покрашена черным лаком. Кюветы типа изображенных на рис. 1,а и в можно использовать с лазерным возбуждением и фокусировкой луча в точке вблизи окошка. Относительно простая многоходовая жидкостная кювета с внешними плоскими зеркалами описана Танниклифом и Джонсом [35]. С лазерным возбуждением вполне применима, особенно для разбавленных растворов, простая многоходовая кювета с внешним отражающим диэлектрическим покрытием (рис. 1,г). [c.19]