ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Поликристаллы из "Эмиссионные и адсорбционные свойства веществ и материалов" Измерено на монокристаллах методом прямой Ричардсона в вакууме (2- 3) 10 мм рт, ст. [c.35] Твердый 1 Измерено методом изотермических кри-Жидкий / вых Фаулера в вакууме 10 мм рт. ст. [c.38] Пленка толщиной 1000 А, испаренная на кварцевую пластинку в вакууме 10 мм рт. ст. [c.39] Измерено на монокристалле методом прямой Ричардсона Б вакууме (2- 3) -Ш мм. рт. ст.. [c.41] Измерено методом прямой Ричардсона в вакууме рт. ст. [c.41] Твердый Измерено методом изотермических кри-Жидкий / вых Фаулера в вакууме рт. ст. [c.42] Тонкая фольга, обезгаженная в вакууме 10 мм рт. ст. [c.45] Изменение р тонких пленок а-Ке при изменении давления в приборе от 10 .до 10 Jчм рт. ст. [c.49] Измерено на пленках а-Ке толщиной 200—300 А, испаренных на кварц при комнатной температуре в вакууме 10 мм рт. ст. [c.51] Напыление проводилось при 7 --= 593 °К в вакууме мм рт. ст. [c.56] Напыление на пирекс проводилось в вакууме 10 рт. ст. [c.57] М1-пленка на стеклянной подложке. Вакуум N-10 мм рт. ст. [c.57] Напыление на пирекс проводилось в вакууме 10 мм рт. ст. [c.57] Пленки, напыленные при 7=293°К рСи-. [c.63] Измерено на фольге в вакууме Ю- мм рт. ст. [c.66] Поликристаллические пленки толщиной 1000—2000 А на подложках из оптически прозрачного кварца. Измерено методом изотермических кривых Фаулера в вакууме 10 мм рт. ст. [c.66] Относительно Н ( f g принята равной 4,50 эв) Измерено на поликристаллической ленте (выход гранен на поверхность 70% 100 -]-20% 211 ) в вакууме 10 мм рт. ст. [c.71] Поликристаллические пленки толщиной 1000—2000 А на подложках из оптически прозрачного кварца. Измерено методом изотермических кривых Фаулера в вакууме 10 мм рт. пт. [c.72] Вернуться к основной статье