ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Микрогеометрические характеристики из "Электролитическое и химическое полирование" Вообще говоря, каждый метод оценки микрорельефа имеет оптимальную область чувствительности и точности. Одни методы пригодны для поверхностей, грубо обработанных на токарных, фрезерных и других режущих станках, и менее пригодны для более тонких методов обработки поверхности—полировки и суперфиниша. Границу между этими двумя группам можно приблизительно провести в области с размером выступов около I мк. [c.12] При поверхностной шероховатости более 1 мк очень удобны самопишущие лрофилометры Г1]. Они представляют собой электромеханические приборы, которые гра-ф.ически воспроизводят выступы и углубления с увеличе-ние.м от 1000 до 10 000. Расстояния в горизонтальной плоскости также записываются на увеличенной (в масштабе) шкале, НО оо значительно меньшей степенью увеличения. [c.12] Для измерения поверхностных неровностей менее 1 мк применяют оптические приборы, лучший из которых использует интерференционные линии. Эти и другие способы имеют то преимущество, что они не связаны с разрушением образца, что важно для процесса контроля, но они дают картину, требующую специальной расшифровки. [c.12] Электроноскопия ири помощи метода реплик (пластические массы, тонкие пленки, напыленный алюминий или углерод) дает возможность определять выступы около десятых и сотых долей микрона, но этот метод слишком тонок для широкого использования в неспециализированных лабораториях. [c.12] Метод испытания, связанный с разрушением образца и известный как метод конусного сечения, часто иапользу-к т в лаборатории и применяют в широких масштабах. Он дает непосредственно настоящий микрорельеф [3] и ценен при последующих изменениях микроструктуры в поверхностных слоях [4]. [c.13] Вернуться к основной статье