ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Электромагнитные волны, применяемые для изучения структуры кристаллов из "Структура и симметрия кристаллов" Полезную информацию о структуре некоторых кристаллических твердых тел можно получить из макроскопических и микроскопических исследований морфологии образца. Однако разрешающей способности видимого света и ультрафиолетового излучения (А 5000 —1000 А) совершенно недостаточно для определения пространственного положения атомов и молекул и расстояний между ними в кристалле, так как обычно эти расстояния порядка нескольких А (10 °м). [c.40] В этом случае можно пользоваться законами геометрической оптики. Длины волн излучения, удовлетворяюшие условию (2.1), соответствуют жесткому 7-излучению, /3-излучению высоких энергий. Однако применение жесткого 7-излучения весьма затруднительно вследствие слабого взаимодействия с веществом. /3-излуче-ние (электроны), напротив, обладает недостаточной проникаюшей способностью для анализа строения трехмерного кристалла. Тем не менее, существует электронная микроскопия высокого разрешения, которая позволяет получить микроскопическое изображение плоских атомных сеток на поверхности некоторых кристаллов с известной структурой. [c.40] Вернуться к основной статье