ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Чувствительность и точность методов эмиссионного гшалйза из "Основы аналитической химии Кн 3 Издание 2" В этом уравнении уЬ и уа — величины постоянные. [c.222] Уравнение (17) показывает, что разность почернений линий аналитической пары связана с концентрацией определяемого элемента прямолинейной функциональной зависимостью. [c.222] ПО заранее проанализированным стандартным образцам и определение неизвестной концентрации по калибровочному графику. Большое значение ДЛЯ точности спектрального анализа имеют стандартные образцы. Они должны соответствовать по химическому составу и физико-химическим свойствам определяемым пробам. Чем ближе свойства и состав эталонов и проб, тем точнее результаты анализа. В Советском Союзе выпускаются специальные комплекты эталонов, предназначенные для анализа сталей, сплавов, руд, шлаков. При отсутствии подходящих эталонов их изготовляют в лаборатории и тщательно проверяют методами химического анализа. [c.223] Метод трех эталонов. Предложено много методов определения функциональной зависимости разности почернений линий аналитической пары от концентрации определяемого элемента в исследуемой пробе, но одним из наиболее распространенных является метод трех эталонов. Сущность метода заключается в следующем. Готовят три образца (эталоны) исследуемого вещества, например сплава. Содержание определяемого элемента в эталонах должно быть точно известно, а качественный и количественный состав эталона должен быть близок с составом исследуемого вещества. [c.223] Например, если нужно определить от 0,01 до 1 % меди в алюминиевом сплаве, готовят три образца алюминиевого сплава с содержанием меди 0,01 0,5 и 1%. На одну пластинку фотографируют спектр анализируемого образца и спектры эталонов. Определяют, как было указано выше, значение разности почернений линий аналитической пары в спектре каждого эталона А5ь Д5г, А5з и значение Д5а разности почернения линий аналитической пары в спектре исследуемой пробы. На оси ординат наносят значения А5ь А5г, А5з, а на оси абсцисс — значения логарифмов соответствующих концентраций Си Сг, Сз. По полученным точкам строят калибровочный график, который имеет вид прямой. Зная А5х, можно по этому графику определить концентрацию С определяемого элемента в исследуемой пробе. [c.223] Фотоэлектрические методы спектрального анализа основаны на тех же зависимостях, что и фотографические. Особенностью фотоэлектрического эмиссионного метода является наличие одной линии сравнения, поэтому практически невозможно выполнить условия гомологичности аналитических линий. Необходимая точность анализа здесь связана с точностью выдерживания выбранной фазы поджига. Используемые в спектральном анализе генераторы типа ДГ-2 и ИГ-3 не могут обеспечить высокую точность фазы поджига, поэтому для фотоэлектрических приборов разработаны специальные генераторы. [c.223] Фотоэлектрический спектральный прибор представляет собой поли-хроматор каждая аналитическая линия выделяется из спектра при помощи выходной щели и проецируется на фотокатод фотоэлемента или фотоумножителя. [c.223] В отличие от разряда на воздухе при возбуждении дугового разряда постоянного тока в аргоне наблюдается ярко выраженное катодное падение напряжения и практически нет анодного. Поэтому почти вся энергия разряда выделяется у катода. Это ведет к тому, что температура катода достигает 10 000°С, в то время как противоэлектрод, включенный анодом, остается практически холодным. Благодаря этому поступление вещества в разрядный промежуток идет из катода, а анод не испаряется. Этим объясняется тот факт, что на вакуумных кванто-метрах смену противоэлектрода производят только после примерно 100 обыскриваний. [c.224] На процессы, происходящие в зоне разряда, существенно влияют два основных фактора кислород, содержащийся в аргоне, и элементы в пробе с большим сродством к кислороду. Эти обстоятельства приводят при определенных условиях к сильному возрастанию роли химических процессов, происходящих на поверхности пробы. Наличие даже незначительного количества кислорода в аргоне (0,01%) и кремния в образце приводит к образованию специфической матовой окисной пленки на поверхности пробы, которая препятствует нормальному прохождению разряда, существенно уменьшая поступление материала в зону разряда что в конечном счете приводит к изменению состава излучающего облака. [c.224] При работе на вакуумных квантометрах следует применять чистый аргон марки А ГОСТ 5,457—70 с дополнительной очисткой его от влаги и кислорода. Для очистки аргон пропускают через гранулированный перхлорат магния Mg( 104)2, для удаления влаги и через стружки магния, нагретые до 500 °С, для удаления кислорода. [c.224] Для получения удовлетворительных результатов при анализе чугу-нов и сталей содержание кислорода в аргоне должно быть не более 5-10 %. Следует отметить, что требования к чистоте аргона различны в зависимости от композиции элементов в сплаве. Чем больше концентрация кремния в пробе, чем чище должен быть аргон. [c.224] Уравнение (19) показывает, что между величиной электрического сигнала и концентрацией определяемого элемента в анализируемой пробе существует прямолинейная функциональная зависимость. Эта зависимость может быть установлена построением калибровочного графика по соответствующим эталонам. [c.224] Эмиссионный спектральный анализ позволяет определять многие элементы, кроме неметаллов, при содержании их в анализируемой пробе 10 —10 %. а в некоторых случаях и 10 %. [c.225] Применение физических и химических методов концентрирования элементов из больших навесок проб экстракция (см. книга 2, гл. X, 4), хроматографические методы разделения (книга 2, гл. X, 6), методы флотации (книга 2, гл. X, 8), электрохимические методы разделения (книга 2, гл. X, 3), — позволяет повысить чувствительность до 10 —10 % и иногда до 10 % и устранить влияние различий в составе и физико-химических свойствах эталонов и проб. [c.225] Точность спектральных определений зависит от многих факторов от минерального состава пробы, от концентрации элемента, от способа регистрации спектра. При фотоэлектрических методах регистрации спектра точность может быть доведена до 1—2%. [c.225] При определении малых концентраций (10 —10 %) химико-спектральными методами погрешность достигает 20—30%. Спектральный анализ не обеспечивает высокой точности при больших концентрациях, в этом случае точность химического анализа выше. [c.225] Вернуться к основной статье