ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Понятие об эмиссионном спектральном анализе из "Основы аналитической химии Издание 3" В эмиссионном анализе определение основано на измерении интенсивностей характерных спектральных линий спектров элементов, входящих в состав данного анализируемого вещества. [c.428] Между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и его концентрацией в исследуёмом веществе существует пропорциональная зависимость, т. е. чем выше концентрация определяемого элемента, тем больше интенсивность спектральных линий. [c.428] Определение ведут следующим образом. Сначала измеряют интенсивности спектральной линии определяемого элемента и близкой к ней линии другого элемента (линии сравнения), содержание которого в исследуемой пробе постоянно . Этот элемент называют внутренним стандартом. Между отношением интенсивности линии определяемого элемента /о.э к интенсивности линии внутреннего стандарта /в. с и концентрацией определяемого элемента существует пропорциональная зависимость, которую устанавливают экспериментальным, путем на основании измерения интенсивности линий эталонных образцов. [c.428] Так как /в. с постоянно, то Io.Jh. зависит только от содержания определяемого элемента. Благодаря этому легко определить его содержание. [c.428] В зависимости от степени точности измерений различают полуколиче-, ственный и количественный спектральный анализ. Полуколичественный анализ выполняют с помощью приборов, называемых стилоскопами. Для количественного анализа применяют более совершенные приборы, называемые стилометрами. Эти приборы предназначены для визуального наблюдения спектров. Для получения фотографий спектров применяют спектрографы, например ИСП-22, ИСП-28, ИСП-30 и др. [c.428] В этом случае для измерения интенсивности спектральных линий спектр исследуемого вещества снимают на фотографическую пластинку На пластинке видны линии, степень почернения которых зависит от интен сивности снятых спектральных линий, которая в свою очередь пропор циональна концентрации определяемого Элемента. Количественно почер нение фотопластинки (плотность почернения) измеряют при помощи спе циальных оптических приборов микрофотометров. [c.428] Вернуться к основной статье