ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Интерферометр из "Техника и практика спектроскопии" Погрешности метода крюков. При определении методом крюков величины N/1 для изолированной линии необходимо измерить расстояние по спектру между вершинами крюков по обе стороны от линии. Погрешности метода полностью определяются ошибками этих измерений. Для повышения точности необходимо отодвинуть крюки дальше от линии и сделать их как можно острее. [c.355] Обоим этим требованиям можно удовлетворить, увеличивая плотность паров, длину их столба I и увеличивая при этом толщину пластинки вводимой в интерферометр для образования крюков. При малой оптической толщине столба паров погрешности возраста-, ют как за счет малости измеряемых расстояний между крюками (случайная погрешность), так и за счет асимметрии крюков (систематическая погрешность). [c.355] Асимметрия крюка вызвана тем, что с внешней его стороны наклон полос обусловлен в основном пластинкой и практически постоянен, с внутренней же стороны основную роль играет дисперсия паров, которая стремительно растет при приближении к центру линии (рис. 14.5). Поэтому внешние от линии стороны крюка всегда более пологи, чем внутренние. [c.355] Измерение крюков, обладающих сильной асимметрией,— операция в значительной степени субъективная. Поэтому не следует в случае малой дисперсии ограничиваться пластинкой небольшой толщины, остерегаясь приблизить крюки к линии. [c.355] Воспроизводимость измерений при этом действительно увеличивается, однако возникают систематические погрешности от асимметрии, преувеличивающие расстояние между крюками. Избавиться от систематических погрешностей можно, увеличив толщину иластинки. При этом крюки неизбежно приближаются к линии, однако форма их улучшается и совмещение нити компаратора с вершинами крюков становится более точным. Конечно, увеличивать толщину пластинки следует лишь до разумных пределов, поскольку результаты измерений могут быть искажены крыльями линии. [c.355] Когда наклон полос, обусловленный пластинкой, превышает 75—80°, асимметрия крюка невелика и практически не сказывается на точности измерений (рис. 14.11). [c.355] Здесь Х Ъ — расстояние по высоте между соседними интерференционными полосами, обусловленное настройкой интерферометра, Ь — обратная линейная дисперсия спектрографа. [c.355] Например, для X = 5000 А, Ь = 5 А/мм ж 1 — I мм для образования достаточно симметричных крюков необходима флюоритовая пластинка (см. рис. 14.6) толщиной не менее 5 мм. [c.356] Интерферометр. В принципе безразлично, каким интерферометром пользоваться нри исследовании аномальной диснерсии. [c.356] Рождественский начинал свои работы с интерферометром Майкельсона, затем, неудовлетворенный непрерывным смещением полос вследствие температурных влияний, он попытался получить лучшие результаты с интерферометром Жамена. Последний, однако, не оправдал возлагавшихся на него надежд, так как толстые стеклянные пластины интерферометра очень медленно нагревались мощными световыми пучками от дугового источника. Это приводило к непрерывному смещению полос. Наилучшие результаты были получены с четырехзеркальным интерферометром (рис. 14.1), который и стал традиционным при исследованиях аномальной дисперсии. Этот прибор называют интерферометром Рождественского. [c.356] По своей оптической схеме он аналогичен интерферометру Маха — Цандера. Однако в интерферометре Рождественского зеркала в каждой головке устанавливаются параллельно друг другу и поворачиваться может только вся головка относительно другой. В интерферометре Рождественского наблюдаются полосы равного наклона, локализованные на бесконечности (или в фокальной плоскости объектива). [c.356] В интерферометре Маха — Цандера каждое зеркало имеет вращательные степени свободы, в результате чего можно изменять ориентацию, ширину и область локализации образующихся полос. [c.356] Следует отметить, что современные дуговые и импульсные источники сплошного спектра, высокочувствительные фотоматериалы и светосильные спектрографы позволяют получать интерферограммы с очень короткими выдержками (до долей микросекунд). Поэтому многие из преимуществ интерферометра Рождественского, относящиеся, главным образом, к стабильности интерференционной картины, в настоящее время не столь существенны. При решении некоторых задач целесообразно использовать более простые интерферометры Жамена и Рэлея или двухпроходный и потому более чувствительный интерферометр Майкельсона. [c.356] ПОЛНОСТЬЮ отражающим слоем, чаще всего алюминиевым, а иногда широкополосным многослойным диэлектрическим покрытием, рассчитанным для угла падения 45°. Полупрозрачные зеркала должны быть плоскими и плоскопараллельными до 1/5—1/10 полосы. [c.357] Оптимальное покрытие имеет одинаковый коэффициент отражения R и пропускания Т. Если оба полупрозрачных зеркала одинаковы, а так оно обычно и бывает, поскольку покрытия на них наносятся одновременно, то при R Ф Т контраст интерференционных полос не снижается. Действительно, каждый пучок проходит один раз через полупрозрачное зеркало, а другой раз отражается от такого же зеркала. Рис. 14.12 иллюстрирует зависимость яркости интерференционной картины от соотношения между R ш Т. Из него следует, что можно не добиваться точного равенства коэффициентов отражения и пропускания. При R/T =2 яркость интерференционной картины спадает лишь на 10%. Яркость уменьшается вдвое лишь при соотношении R/T = 6. [c.357] Вернуться к основной статье