ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Аналиа готовых изделий и металлических покрытий из "Основы спектрального анализа" Локальный анализ. Значительный интерес часто представляет исследование отдельных небольших включений в металл. Для решения этой задачи разрабатывался ряд способов. Можно создать маломощный, но достаточно яркий разряд, охватывающий поверхность образца диаметром не более 0,1 мм. Если отобразить изображения разряда на щель спектрографа и одновременно перемещать образец и кассету спектрографа, то мы получим спектры отдельных участков образца. Аналогичный результат можно получить, располагая про-тивоэлектрод в виде лезвия ножа (рис. 142) над плоскостью образца и проектируя искровой промежуток на щель прибора. Искровой промежуток при этом берется не более 0,5 мм, а мощность разряда уменьшается в несколько раз по сравнению с обычной. [c.194] Картина спектра, получаемого таким методом, дана на рис. 143. [c.194] В последнее время в качестве метода локального анализа было предложено возбуждение пробы с помощью оптического квантового генератора (лазера). При этом мощный световой пучок, даваемый рубиновым лазером, фокусируется на поверх- ность пробы, вследствие чего происходит ее локальное разогревание. [c.194] Анализ готовых изделий и металлических покрытий. Анализ готовых изделии обычно преследует цель определения сорта металла, из которого опи изготовлены. [c.195] Анализ гальванических покрытий также часто нужно делать без повреждения, а главное, иногда нужно возбуждать их спектр так, чтобы не проявлялся спектр металла, на который нанесено покрытие. Для этого следует применять слабое высокочастотное возбуждение. Укажем здесь в качестве примера анализ железоцинкового покрытия, нанесенного на железо [11.19]. Естественно, что проникновение разряда сквозь покрытие приведет к дополнительному усилению линий железа. Поэтому применялось возбуждение разрядом от трансформатора Тесла. Противо- зо электродом служил графитовый стержень. [c.196] Искровой промежуток был 0,5 мм. Так как спектр разряда очень слаб, то вместо спектрографа применялись фильтры. Интерференционный фильтр выделял аналитическую линию цинка, а стеклянный фильтр выделял группу линий железа, свободную от присутствия линий цинка. Измерялось отношение световых потоков, пропускаемых обоими фильтрами. По эталонам строился градуировочный график, позволявший определять состав сплава с ошибкой около 2% при толщине слоев не менее 0,25 мк. Градуировочный график приведен на рис. 145. [c.196] Применение более мощного разряда позволяет определять толщину тонких металлических покрытий. Для этого можно, например, наблюдать время, протекшее от начала разряда до появления аналитических линий основы [3.5]. [c.196] Такой прием не является особенно точным, но, вероятно, для практического применения его точность достаточна. Пример градуировочных графиков, построенных этим методом, дан на рис. 146, где I — никелевое покрытие на железной основе, II — суммарная толщина слоя меди и никеля в трехслойном покрытии на железной основе, III — толщина слоя никеля в трехслойном покрытии на железной основе, IV — хромовое покрытие на латунной подложке, V — никелевое покрытие на латунной подложке. [c.196] Вернуться к основной статье