ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Методы получения дифракционного эффекта из "Основы структурного анализа химических соединений 1989" При использовании стандартной рентгеновской аппаратуры длину волны лучей менять непрерывно невозможно. Однако рентгеновская трубка наряду с монохроматическим (линейчатым) спектром испускает так называемый белый (непрерывный) спектр (рис. 27). В этом спектре имеются, естественно, и такие волны, длина которых делает условия Лауэ совместимыми. Лучи с такими к и будут дифрагировать. Каждый дифракционный луч (со своими ф1, ф2, фз и индексами pqr будет иметь и свою особую длину волны. Остальные лучи непрерывного и линейчатого спектра погасятся. Именно такую дифракционную картину наблюдали в 1912 г. В. Фридрих и П. Книппннг, поставившие опыт по предложению М. Лауэ. [c.56] Наконец, можно воспользоваться и монохроматическим лучом, и монокристальным образцом, если последний вращать вокруг одной из его осей. При этом будут меняться два из трех углов х и, следовательно, углы полураствора ф двух из трех конусов. В процессе вращения последовательно будут возникать условия совместимости всех трех условий Лауэ для различных комбинаций pqr и, следовательно, будут возникать вспышки дифракционных лучей. [c.57] Если к вращению кристалла добавить синхронное перемещение рентгеновской пленки, на которой фиксируется результат дифракции, то по расположению рефлексов на пленке можно будет судить не только о направлении каждого луча pqr, но и об ориентации кристалла в момент каждой вспышки дифракции. [c.57] Таким образом, существует три классических метода получения дифракционного эффекта от кристалла полихроматический метод (или метод Лауэ), метод порошка (или метод Дебая — Шерера) и метод вращения монокристалла. Различные схемы, основанные на методе вращения, но включающие то или иное перемещение кассеты с рентгеновской пленкой, называют рентгенгониометрическими. [c.57] По способу регистрации лучей рентгеновскую аппаратуру можно разделить на два типа фотографическую и дифрактометрическую. В фотографических установках лучи фиксируются на рентгеновской пленке, в дифрак тометрах — счетчиком-детектором элементарных частиц Но основа метода остается в обоих случаях неизменной Разница заключается лишь в том, что при фотографиче ОКОЙ регистрации мы наблюдаем следы всех дифрак ционных лучей на проявленной пленке (т. е. одновре менно), а в дифрактометрах регистрируем их последовательно по той или иной заранее заданной схеме движения счетчика (и кристалла в случае метода вращения). [c.57] В нейтронографии, использующей в качестве лучей поток нейтронов, аналогом метода энергодисперсионной дифрактометрии можно считать в р е м я п р о л е т н у ю методику регистрации дифракционного эффекта, позволяющую разделять в пучке нейтронов компоненты с разным временем прохождения от кристалла до детектора, т. е. нейтроны разной скорости, а следовательно, и с разной длиной волны X, определяемой соотношением де Бройля x = hlnw. [c.58] Вернуться к основной статье