ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Источники ошибок спектрального анализа из "Методы оценки точности спектрального анализа" Как отмечалось, в зависимости от условий задачи одни и те же ошибки могут рассматриваться и как случайные и как систематические. Классификация ошибок спектрального анализа, приведенная ниже, составлена применительно к наиболее часто встречающимся условиям его осуществления. При выполнении специальных исследований может оказаться, что по своему действию некоторые из перечисленных источников ошибок отличаются от принятого в классификации. [c.11] Случайные ошибки. Источники случайных ошибок спектрального анализа многообразны. К их числу должны быть отнесены следующие. [c.11] В образцах — металлических сплавах такая неоднородность чаше всего возникает вследствие межкристаллитной или вну-трикристаллитной ликвации. В образцах минеральных веществ (иногда и металлических образцах) она может быть следствием разного состава структурных составляющих, количество которых непостоянно. В эталонных образцах, синтезированных из механических смесей исходных веществ, подобная неоднородность может возникнуть в результате недостаточно равномерного перемешивания компонентов смеси. [c.11] При фотографической регистрации спектра существенное шачение имеют неравномерная толщина фотоэмульсии, ее зернистость, различия в чувствительности и. контрастности. При работе по методу твердого графика, без учета свойств фото- -эмульсии, дополнительными источниками случайных ошибок служат различия в температуре, концентрации и интенсивности перемешивания проявляющего раствора. Измерение почернений с помощью микрофотометра оопря тено с возможностью появления ошибок вследствие колебаний яркости лампы накаливания, вибрации гальванометра, изменения количества рассеянного света, попадающего на фотоэлемент, изменения фокусировки изображения линии на щель приемника света, пыли и загрязнений на пластинке и оптике прибора. [c.12] При фотоэлектрической регистрации возможны ошибки, обусловленные взаимным смещением регистрируемых пучков света (линий) и выходных щелей вследствие колебаний температуры прибора, его вибрации, а также связанные с нестабильностью работы электрических звеньев измерительных схем. [c.13] Систематические ошибки. К источникам их относятся следующие. [c.13] В конкретных условиях работы в каждой лаборатории значение тех или иных ошибок, естественно, может быть различным. [c.13] Нетрудно заметить, что один и тот же источник ошибок может фигурировать в обоих разделах приведенной классификации ошибок спектрального анализа. Это лишний раз иллюстрирует зависимость характера действия источников ошибок ог условий задачи. [c.13] Так как источники ошибок весьма многообразны, то при недостаточной точности анализа обычно бывает трудно (а иногда и невозможно) непосредственно установить, какие методические усовершенствования нужны для ее повышения. В таких случаях необходимым этапом работы является оценка величины ошибок и выявление наиболее опасных их источников. [c.13] Эта проблема и необходимый минимум смежных вопросов рассматриваются ниже. [c.13] Вернуться к основной статье