ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Метод рентгеновской дифракции из "Твердофазные реакции" Он с успехом используется для определения как точечных, так и протяженных дефектов различного типа. Образование точечных дефектов типа вакансий или внедренных атомов вызывает смещение ионов из регулярных позиций. Рентгенографическое измерение статических среднеквадратичных смещений в отдельных подрешетках феррошпинелей позволило установить тип доминирующих точечных дефектов в нестехиометрических ферритах цинка, никеля, лития, марганца [30]. [c.225] Влияние продолжительности ферритизации на размер блоков Д, вероятность образования деформационных дефектов -у, концентрацию остаточных микроискажений и вероятность образования двойниковых дефектов Р у феррита М1о,82по,2ре204 (температура ферритизации 900 °С). [c.226] Максимумы на кривых величин микроискажений и вероятности образования двойниковых дефектов упаковки для т = 2 ч соответствуют преобладанию процесса образования двойниковых дефектов за счет химической неоднородности блоков над процессом отжига. Тот факт, что максимум на кривой величин микроискажений лежит правее максимума на кривой вероятности образования двойниковых дефектов упаковки, также дает право предположить существенный вклад в дефектообразование сопряжения химически неоднородных слоев. При больших временах нагревания субструктура становится менее дефектной. [c.227] Влияние температуры ферритизации при постоянной продолжительности нагревания показано на рис. 4.10. С увеличением температуры размер блоков увеличивается от 78 нм при 850 °С до 165 нм при 1000 °С. Вероятность образования деформационных дефектов упаковки уменьшается в интервале температур 850— 900 °С и остается приблизительно на одном уровне вплоть до 1000°С. Вероятность образования двойниковых дефектов упаковки максимальна при температуре 900 °С, что соответствует площадке на кривой микроискажений (рис. 4.10). [c.227] Поведение двойниковых дефектов упаковки при разных температурах ферритизации (см. рис. 4.10) можно объяснить тем, что большие микроискажения вследствие химической неоднородности начинают компенсироваться образованием двойниковых дефектов при температуре около 900°С. При более высоких температурах, как уже указано, диффузия двухвалентных катионов N1 + и 7,п + идет более активно и химический состав микрообъемов выравнивается быстрее. Соответственно концентрация микроискажений уменьшается, снижается и вероятность образования двойниковых дефектов упаковки. [c.228] Метод ГАФРЛ был использован также для изучения субструктуры порошкообразного феррита кобальта, полученного термическим разложением соосажденных гидроокисей, оксалатов и твердых растворов солей типа шенитов [39]. Установлено, что и в этом случае химическая и термическая предыстории существенно влияют на размер блоков, вероятность образования двойниковых и деформационных дефектов упаковки, а также на размер микроискажений. [c.228] Вернуться к основной статье