ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Рентгенография из "Химия искусственных смол" Величина этой разности равна 2d sin ф, где 9 —угол скольжения. [c.60] Структура органического кристалла, Химтехиздат, 1929 А. Е. Ч и ч и б а б и н. Рентгеноскопический метод в органической химии, 1929 И. Р. Катц, Рентгенография коллоидов и тканей, ОНТИ, 1937 К. Фуллер, Усп. хим.,9,1193 (1940) В. Беккер, Химия больших молекул, сб. Ь Издатинлнт, 1948, стр, 9. [c.60] Когда STH разности хода от двух следующих друг за другом плоскостей являются целым кратным п) длины волны (X), т. е. [c.61] Интерференцией называется явление усиления или ослабления колебаний, получающихся в результате встречи двух или нескольких волн в частности, интерференция световых волн приводит к усилению нли ослаблению освещенности поверхности, на которую падают лучи. [c.61] В том случае, когда свет проходит через малые отверстия или встречает на своем пути очень малые препятствия, можно наблюдать еще другое явление, носящее название диффракции. [c.61] Если щели очень узки и число их весьма велико, то от такой решетки будут распространяться яркие лучи в некоторых определенных направлениях, между тем как в промежуточных направлениях будут наблюдаться затемнения. [c.61] В свое время Лауэ воспользовался в качестве диффракцион-ной решетки кристаллом. Он исходил из предпосылки, что кристалл имеет структуру пространственной решетки, образованной частицами данного вещества. Рентгеновские лучи, обладающие очень малой длиной волны, проходя через кристалл, будут испытывать диффракцию и могут быть зафиксированы при помощи светочувствительной пластинки. [c.61] Впоследствии теоретически было доказано, что правильные фотографические изображения лучей, отраженных от плоскостей кристаллических решеток, можно получить, используя вместо отдельного кристалла микрокристаллический порошок. [c.61] А—низкомолекулярное соединение Б—высокомолекулярное соединение. [c.62] В случае совершенно беспорядочного расположения кристаллов, на фотопленке, помещенной перпендикулярно к первичному пучку лучей, получаются концентрические кольца, причем диаметры этих колец связаны с периодами идентичности в кристаллах. Чем больше диаметр кольца, т. е. чем больше угол отклонения луча, тем, следовательно, меньше соответствующий период идентичности. Если кристаллы расположены с некоторой упорядоченностью в каком-либо направлении, то интенсивность лучей по разным образующим диффрак-ционного конуса будет различной. Измеряя изменение интенсивности диффракции по кольцу, можно определить закономерность распределения кристаллов в веществе. Такого типа рентгено- или электроно-грамма называется текстур-диаграммой, или фазер-диаграммой. [c.62] У низкомолекулярных соединений кристаллы, как правило, состоят из молекул, имеющих одинаковую структуру, величину н форму. Поэтому кристаллы этих соединений имеют четкие грани. Рентгенограммы этих соединений характеризуются четкими максимумами интерференции. С увеличением же длины молекул роль концевых групп затухает, и на прочность кристаллической структуры начинают оказывать влияние преимущественно меж-молекулярные силы, действующие между цепями. При таких условиях молекулярная решетка видоизменяется в так называемую макромолекулярную решетку, в которой концы молекул расположены в беспорядке. Поэтому рентгенография не может дать непосредственных данных для определения длины цепей высокомолекулярных соединений. [c.62] Примерную картину распределения молекул в кристаллической решетке ниэкомолекулярных и высокомолекулярных соединений мол но видеть из схемы на рис. 10. [c.62] Рентгенографический метод исследования имеет большое значение при исследовании структуры смол. [c.62] По наличию или отсутствию определенных максимумов интерференции на рентгенограмме судят о пространственном построении вещества. [c.63] Кристалл геометрически может быть построен приложением друг к другу совершенно одинаковых элементарных ячеек или, другими словами, весь кристалл геометрически может быть построен из элементарной ячейки параллельным перемещением ее по трем измерениям пространства. Такая элементарная ячейка обладает всеми элементами симметрии кристалла. [c.63] Поэтому при изучении структуры вещества можно ограничиться изучением элементарной ячейки — определением ее размеров и элементов симметрии. [c.63] Периоды идентичности в направлениях, соответствуюш,их трем кристаллографическим основным осям, равны длинам ребер элементарной ячейки (параллелепипеда). Отсюда легко определить объем элементарной ячейки, а зная ее объем, плотность кристалла и элементарный состав вещества, легко вычислить и число атомов в ячейке. [c.64] Сравнительно легко разрешается и вторая задача — определение элементов симметрии элементарной ячейки. [c.64] Следует обратить внимание на то, что понятия элементарная ячейка и молекула не той дественны. Элементы симметрии элементарной ячейки совпадают с элементами симметрии молекулы только тогда, когда ячейка состоит из одной молекулы. Чаще наблюдаются случаи, когда элементарная ячейка состоит 113 нескольких молекул, тогда она обладает более высокой симметрией, чем молекула. [c.64] Имеются, однако, случаи, когда размеры элементарной ячейки меньше размеров молекулы (например, у нормальных высокомолекулярных парафинов). [c.64] Вернуться к основной статье