ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Величина ошибок при спектральном анализе из "Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов" В ряде работ специально исследовался вопрос о величине ошибок при спектрально-аналитических определениях [ ]. Как правило, эти исследования касаются проблем анализа сплавов, и мы приведем лишь некоторые из полученных результатов. К- И. Ионова и В. В. Налимов р ] исследовали распределение ошибок по отдельным звеньям процесса при анализе легированных сталей на Si, Мп, Си, Сг и Ni. [c.82] Авторы относят отдельные ошибки к следующим звеньям процесса фотометрирование Оф, неоднородность фотопластинки , ,. источник возбуждения и неоднородность проб о ст. неод- различие в физическом состоянии образца аф зИ построение градуировочного графика Огр. [c.82] Вернуться к основной статье