ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Чувствительность определений в различных условиях из "Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов" Иначе говоря, относительная чувствительность анализа оказывается непосредственно связанной с той точностью, с которой мы можем производить измерения относительных интенсивностей аналитической линии и фона. Последняя определяется свойствами измерительного устройства (фотопластинка, микрофотометр) и стабильностью работы источников света. [c.54] Следует подчеркнуть, чго светосила спектрального прибора и чувствительность приемника (фотопластинка, фотоэлемент) не сказываются ни на одной из величин, входящих в выражение (38) или (39). Это означает, что относительная чувствительность совсем не зависит от этих параметров. Они определяют только время экспозиции, которое, как правило, не ограничивает возможностей анализа в тех случаях, когда мы располагаем достаточно большой навеской пробы. Наоборот, абсолютная чувствительность в первом приближении линейно связана с чувствительностью установки — светосилой прибора и чувствительностью приемника. Все факторы, определяющие относительную чувствительность метода, сохраняют такую же роль и в величине абсолютной чувствительности. [c.54] Зависимость относительной и абсолютной чувствительности от указанных параметров не всегда достаточно принимается во впиманне. Это приводит к ряду недоразумений — глав 1ым образом в выборе фотоматериалов н приборов для достижения боль-шой относительной чувствительности. Часто для этого стремятся воспользоваться наиболее чувствительными фотопластинками и светосильными спектрографами, между тем и то и другое обычно приводит к снижению относительной чувствительности потому, что более чувствительные пластинки, как правило, обладают малым фактором контрастности, а более светосильные приборы — небольшой дисперсией, что, как будет показано ниже, также приводит к увеличению значения ЬС. [c.55] Рассматривая в этом разделе вопрос о чувствительности определения различных элементов, мы совсем оставим в стороне условия поступления их в плазму разряда, т. е. будем считать, что источник обеспечивает равномерное и одновременное поступление всех определяемых элементов в плазму разряда в количествах, пропорциональных их содержанию в анализируемой пробе. Это справедливо при распылении растворов с помощью разного рода фульгураторов, при анализе порошков методом вдувания их в тамя дуги и в ряде других случаев. [c.55] Даже в этих условиях опыт показывает, что чувствительности определения различных элементов резко различаются друг от друга и существенно зависят также от того, из какой пробы происходит определение. [c.55] При анализе в дуге и искре относительная чувствительность определений большинства элементов, последние линии которых расположены в удобной для исследования области спектра, лежит в пределах от одного до десятитысячных долей процента, составляя обычно величину примерно 10 — Ю %. Для элементов, спектры которых обладают небольшим числом линий, относительная, так же как гг абсолютная, чувствительность их определений выше [см. формулу (41)] для элементов с многолинейчатыми спектрами она ниже. Правильным выбором источника и метода введения пробы в плазму относительная чувствительность почти всегда может быть существенно повышена. [c.56] Более общее и подробное рассмотрение может быть сделано при обсуждении вопроса о влиянии свойств элемента на абсолютную чувствительность его определений. При этом предполагается, что проба не содержит никаких других элементов в количествах, достаточных для того, чтобы оказать существенное влияние на чувствительность определений исследуемого элемента. Практически это, вероятно, сводится к тому, что ни одна примесь не должна содержаться в количествах, превышающих количество анализируемого элемента более чем в 5—10 раз. В этих условиях можно высказать некоторые соображения о величине абсолютной чувствительности. [c.56] Можно предположить, что абсолютная чувствительность прямо пропорциональна интенсивности аналитической линии определяемого элемента (это не совсем точная зависимость, но достаточная для тех грубых рассуждений, которые здесь приводятся). [c.56] Интенсивности спектральных линий почти линейно возрастают при увеличении содержания элемента, атомы которого испускают эти линии в плазме разряда, а это содержание, в свою очередь, мы считаем пропорциональным числу атомов данного элемента в пробе. Отсюда следует, что надлежит сравнивать чувствительности не по весовым, а по атомным содержаниям элементов. Необходимо, однако, еще принять во внимание сложность спектра определяемого элемента. [c.56] Сделаем грубый оценочный расчет интенсивности аналитических линий, наблюдаемых в спектре данного элемента. [c.56] Однако, пользуясь этим соотношением, можно грубо сравнивать чувствительности определения различных элементов в пределах одного метода. Так, сравнивая чувствительность определений в методе Си-искры [ ] и приняв за основу чувствительность определения, скажем Ga, равную в этом методе 100 мгм, ) можно вычислить чувствительности определения других элементов и сравнить их с фактически наблюденными. Результаты сравнения даны в табл. 4. [c.58] Вернуться к основной статье