ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Основы спектрального метода анализа из "Оптический и рентгеноспектральный анализ" Назначение этих этапов и необходимое для их выполнения оборудование наглядно поясняет блок-схема, изображенная на рис. 5. [c.19] Хотя эти положения и этапы просты и понятны, их практическое осуществление связано с рядом затруднений. [c.19] Рассмотрим главные из них. [c.19] Последние линии. Соотношение интенсивности линий в каждой из серий можно характеризовать как 100 50 30 15 и т. д. Поэтому первые из них —резонансные— наиболее удобны для работы с предельно малыми концентрациями. Но в большинстве своем они расположены в труднодоступной вакуумной области спектра или обладают значительным эффектом само поглощения. Приходится использовать менее интенсивные линии из числа тех, которые с уменьшением концентрации элемента в пробе исчезают из спектра последними. Это не всегда удобно. Например, использование для цинка линий 328,2 330,2 или 334,5 нм с потенциалами возбуждения в 8,8 эв приводит к снижению чувствительности определения цинка более чем в 100 раз по сравнению с анализом по резонансной линии в 213,8 нм, потенциал возбуждения которой равен 5,8 эв. [c.20] Аналитическая пара спектральных линий. Интенсивности линий характеризуют концентрацию атомов в излучаемом объеме пробы. Однако целый ряд причин нарушает или искажает эту зависимость. С целью учета этих искажений в качестве меры для определения концентрации элемента используют отношение, либо логарифм отношения интенсивностей двух спектральных линий, которые составляют аналитическую пару, т. е. используют метод сравнения. В качестве стандарта избирают такую линию (см. с. 170), чтобы отношение интенсивностей линий аналитической пары зависело только от концентрации определяемого элемента, т. е. чтобы оно по возможности меньше зависело от условий возбуждения и регистрации спектра (от колебаний параметров режима работы источника света, от условий освещения входной щели спектрального прибора, от величины экспозиции и т. д.). [c.20] Эти уравнения характеризуют ту простейшую аналитическую зависимость, которая лежит в основе количественного спектрального анализа по способу внутреннего стандарта. Величина а здесь характеризует положение градуировочного графика, а коэффициент Ь — его наклон к осям координат. [c.21] При оптикоспектральном, анализе величина а зависит от условий возбуждения спектра, скоростей поступления и эвакуации атомов из плазмы разряда, а Ь— от степени самопоглощения. В рентгеноспектрометрии подобные явления выражают другими словами величина а зависит от уровня и колебаний интенсивности фона, коэффициент Ь — от чувствительности линии к изменению концентрации элемента и эффектов взаимного влияния элементов. [c.21] Вернуться к основной статье