ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Роль поверхностного слоя из "Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей" Но для анализа магния (длина волны 9,9А) может быть использован только кристалл дигидрофосфата аммония. [c.233] Для элементов, близких по атомному номеру к углероду, применяются дифракционные решетки и вакуумные спектрометры, необходимые для разрешения аналитических линий. Такие измерения, хотя они и важны в специальных случаях, выходят за рамки обычных аналитических работ (см. приложение V). [c.233] При увеличении длины волны аналитической линии анализируемого элемента, так как для больших длин волн критическая глубина образца уменьшается. Очевидно, что чем меньше критическая глубина, тем больше относительный вклад поверхностного слоя в интенсивность аналитической линии, полученной от поверхности образца. [c.234] Ранее (см. 6.5) уже отмечалось, что критическая глубина определяется плотностью и массовым коэффициентом поглощения образца для падающего излучения и для аналитической линии. Для легких элементов коэффициент поглощения аналитической линии может быть настолько велик, что при вычислении а [в уравнении (75)] коэффициентом поглощения для падающего пучка можно пренебречь. [c.234] Тенденция к уменьшению критической глубины при увеличении массового коэффициента поглощения иногда частично компенсируется более низкой плотностью образца, которая имеет склонность увеличивать эту глубину. Наименьшая критическая глубина характерна для таких случаев, когда легкий элемент определяется в образце, состоящем главным образом из тяжелых элементов, так как тогда и массовый коэффициент поглощения аналитической линии легкого элемента и плотность пробы оказываются большими. [c.234] Вернуться к основной статье