ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Краткие теоретические сведения из "Физико-химические методы анализа 1988" Здесь Л — постоянная Планка (/1 = 6,626-10 Дж-с) 1к — частота перехода, соответствующая данной спектральной линии. [c.54] Сами по себе переходы атомов из одного энергетического состояния в другое подчиняются квантовомеханическим правилам отбора. [c.54] Здесь N1, Ыо — число частиц, находящихся в состояниях Е и Ео при температуре Г gl, go — статистические веса верхнего и нормального состояний (для невырожденных состояний .7 о = 1) й — постоянная Больцмана (k= = 1,381-10-23 Дж/К). [c.54] Здесь Л/+, N0, Ме — концентрации ионов, атомов и электронов Ше — масса покоя электрона (т = 0,9109534-10- кг) V — потенциал ионизации атома. [c.54] Здесь X = Л/+/(Л/о 4- Л/+) — степень ионизации. [c.54] Формула (3.4) во многих случаях требует уточнений и дополнений, учитывающих процессы в источнике света при испа- рении и атомизации вещества. Одним из таких дополнений является уравнение баланса числа атомов элемента в зоне возбуждения спектров. [c.55] Общее число атомов элемента Л о, находящихся в зоне возбуждения спектров, определяется скоростями поступления атомов в зону и выхода из нее, т. е. [c.55] Здесь V — коэффнциент использования паров, т. е. доля атомов, поступающих в зону возбуждения п — число ато.мов, испаряющихся в единицу времени р — вероятность выхода атомов из зоны возбуждения (величина, обратно пропорциональная среднему времени пребывания атомов в зоне разряда т). [c.55] Интенсивность спектральной линии зависит от температуры источника света пропорционально фактору (1—л )ехр(—Е кТ)]. Поэтому в атомно-эмиссионном спектральном анализе принято измерять интенсивность аналитической линии относительно интенсивности некоторой линии сравнения (внутренний стандарт). Чаще всего — это линия, принадлежащая основному компоненту пробы. Иногда компонент, играющий роль внутреннего стандарта, специально вводят в анализируемую пробу. [c.55] Число атомов в плазме разряда пропорционально концентрации С определяемого элемента в пробе N0 = р(Ст)С, где Р(Ст)—коэффициент, зависящий от качественного состава пробы и концентраций всех компонентов в ней. При наличии прямой пропорциональной связи N0 = кС и I КС. [c.56] С увеличением концентрации определяемого элемента в плазме источника возбуждения спектра наряду с излучением спета возбужденными атомами начинает играть заметную роль процесс поглощения света невозбужденными атомами того же элемента. Такой процесс называют самопоглощением или реабсорбцией. В результате прямая пропорциональная зависимость интенсивности от концентрации заменяется степенной зависимостью / С, где Ь 1. Явление самопоглощения в той или иной степени наблюдается во всех источниках воз-буждения спектров. [c.56] Упрощения в теоретических представлениях о процессах поступления атомов из твердой пробы в плазму приводят к тому, что ни формула (3.10), ни формула (3.11) не отражают хорошо известного в атомно-эмиссионном методе влияния матричных эффектов. Это влияние заключается в том, что во многих случаях значение аналитического сигнала и соответственно результат анализа оказываются зависимыми не только от относительной концентрации определяемого элемента, но и от содержания сопутствующих компонентов, а также от микроструктуры и фазового состава анализируемых материалов. [c.57] Физическая сущность влияния матричных эффектов весьма многообразна, и до настоящего времени нет каких-либо общих аналитических соотношений на этот счет. В производственных условиях во избежание искажения получаемых результатов анализа из-за влияния матричных эффектов стремятся к максимально возможному сближению состава и свойств анализируемых проб и используемых образцов сравнения, включая и такие факторы, как структура материала, форма и размеры образцов и т. д. [c.57] Условно все наблюдаемые матричные эффекты можно подразделить на два типа аддитивные, смещающие исходный градуировочный график параллельно самому себе в зависимости от концентрации мешающего элемента, и мультипликативные, приводящие к изменению угла наклона исходной градуировочной характеристики. [c.57] Здесь А —число мешающих элементов. [c.57] Такая модель позволяет с достаточной точностью описывать градуировочные кривые в значительно более широких интерва. лах варьирования как содержания определяемого элемента, так и состава анализируемых проб, чем в способе, основанном на использовании адекватных образцов сравнения. Практическое применение аппроксимации градуировочных кривых выражениями типа (3.14) стало возможным благодаря широкому внед рению ЭВМ в аналитическую практику. [c.58] Вернуться к основной статье