ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Автоматическое регулирование процесса выращивания кристалАнализ состава жидкостей и газов Общие принципы анализа из "Применение радиоактивных изотопов для контроля химических процессов" Процесс выращивания кристаллов можно автоматизировать единственным способом, используя приборы с радиоизотопными датчиками, реагирующими на разницу в плотностях жидкой и твердой фаз кристаллизующегося вещества. На рис. 145 показана принципиальная схема автоматического регулирования процесса выращивания кристаллов. Пучок радиоизотопного излучения от излучателя 3, пройдя через границу раздела твердой и жидкой фаз кристаллизующегося вещества, падает на детектор излучения 4. Сигнал, возникающий на выходе детектора, усиливается прибором 5 и попадает в преобразователь 6, где непрерывно сравнивается с сигналом, поступающим от эталонного устройства. Это устройство состоит из компенсационного источника излучения 12, эталонного поглотителя 11, выполненного в виде клина, и детектора излучения 13. Нулевое положение преобразователя устанавливают в начале процесса регулирования при помоши рукоятки клина 10. Скорость кристаллизации задают скоростью перемещения источника и связанного с ним детектора излучения. [c.272] Если в некоторый момент времени скорость кристаллизации окажется меньше скорости перемещения системы источник—детектор, то число у-квантов, падающих на детектор, возрастает и в преобразователе возникает сигнал разбаланса этот сигнал приводит в действие исполнительный механизм 7, перемещающий сердечник индукционной катушки 8. Эта катушка является задатчиком регулятора 9, который приводит систему в равновесие либо путем увеличения количества охлаждающей воды, либо уменьшением интенсивности обогрева расплава. Обычно этот процесс регулируют изменением количества охлаждающей воды. [c.273] Для получения заданного распределения примесей в кристаллизующемся веществе необходимо изменять скорость кристаллизации по определенной программе это достигается перемещением системы источник—детектор излучения по той же программе. [c.273] Описанные выше методы измерения уровня, плотности, тол-Ш.ИНЫ и т. д. далеко не исчерпывают возможностей, связанных с применением ядерных излучений в химической промышленности. В последние годы выявилось новое направление использование излучений для анализа состава веществ. Распространенные в настоящее время методы автохматического анализа состава веществ еще не полностью удовлетворяют запросы быстро развивающейся промышленности. Поэтому даже первые попытки привлечения новых средств к решению этой задачи (в частности, применение радиоактивных изотопов) заслуживают самого серьезного внимания и детального изучения. [c.274] Метод меченых атомов (радиоизотопных индикаторов) наше. некоторое промышленное применение в ряде производственных процессов (нефтепереработка, экспрессный анализ в металлургии и др.). Однако этот метод также исключен из рассмотрения, поскольку радиоактивное загрязнение исследуемых материалов обычно нежелательно, а при анализе больших количество газов и жидкостей приходится вводить в систему соответственно значительные количества радиоизотопных индикаторов. По указанной причине метод меченйх атомов как направление промышленного использования радиоактивных изотопов вряд ли является перспективным. [c.274] Вернуться к основной статье