ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Световая (оптическая) микроскопия из "Физико-химия полимеров 1978" Длина волн видимого света составляет 0,4—0,8 мкм. Поэтому оптические методы позволяют различать структурные элементы размером от нескольких до многих сотен микрон. Предельное разрешение, или разрешающая способность, т. е. минимальное расстояние между двумя точками объекта, которые еще можно видеть раздельно на сформированном в световом микроскопе изображении, составляет 1—0,5 мкм. [c.76] Метод оптической микроскопии обычно не требует специального препарирования исследуемых объектов. Наиболее удобны для изучения в проходящем свете образцы в виде тонких пленок или срезов с массивных блоков, толщина которых может колебаться от нескольких до сотен микрон. Оптическая микроскопия в отраженном свете широко используется для исследования структуры поверхности массивных полимерных материалов, а также поверхностей разлома. [c.76] Методы оптической микроскопии используются при исследовании структурных образований в кристаллических полимерах, для наблюдения за структурными превращениями при кристаллизации и исследования кинетики этого процесса, контроля за макроскопической структурой материала, полученного в различных технологических условиях, а также наблюдения за структурными превращениями под влиянием различных воздействий (деформационных, тепловых и т. п.). [c.76] Вернуться к основной статье