ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Спектрографы с дифракционными решетками из "Методы спектрального и химико-спектрального анализа" В качестве диспергирующего устройства спектрографа помимо призм используют плоские и вогнутые дифракционные решетки. В первом случае в конструкции прибора сохраняется коллиматорный и камерный объективы, а во втором зеркальная поверхность вогнутой решетки выполняет одновременно функцию объек ива. Это значительно уцрощает конструкцию прибора. [c.74] Спектрограф ДФС-13. Прежняя его модель — ДФС-3. Он принадлежит к классу приборов большой дисперсии, составляющей при работе в первом порядке 2—4 А/мм, в зависимости от типа решенки (600 штр/мм или 1200 штр/мм). Прибор аконструирован по автоколлимационной вертикальной схеме (рис. 45). [c.74] Спектрограф ДФС-13 дает возможность работать в области 2000—10000 А и получать при данном положении решетки участки спектра в 1000—500 А в зависимости от постоянной решетки. Из-за большого фокусного расстояния на качестве спектров могут сказываться колебания температуры в рабочем помещении. Это обстоятельство необходимо учитывать особенно в случае больших экспозиций. [c.74] Квантометр ДФС-10М. Прибор относится к классу спектрографов с вогнутой дифракционной решеткой. Рабочий диапазон прибора 1900—7000 А. Решетка установлена по схеме Пашена — Рунге, имеет 1200 ш.тр/мм и радиус кривизны 1995,3 мм. Процесс измерения интенсивности на установке ДФС-10М полностью автоматизирован. [c.74] Измерительная схема прибора работает по принципу накопления зарядов на конденсаторе. Для измерения относительной интенсивности линий используют электрометр и ламповый вольтметр (рис. 47). Существует линейная зависимость между напряжением, измеряемым ламповым вольтметром, и концентрацией элемента в пробе. Поэтому шкала прибора градуируется непосредственно в единицах концентрации. [c.76] Квантометр ДФС-ЮМ успешно применяют для количественного анализа сплавов и сталей различных марок на содержание алюминия, хрома, марганца,, кремния, молибдена и других элементов. Для определения И элементов в одном образце требуется всего 6—8 мин. Точность определения в этом случае выше, чем при фотографических методах регистрации спектра. [c.76] Вернуться к основной статье