ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Изучение субструктуры кристаллов методами РДМ из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" На практике различают размеры и разориентировку в радиальном (брэгговском) направлении, т. е. в направлении изменения угла дифракции О, и в перпендикулярном ему азимутальном направлении, характеризующимся постоянством угла дифракции (рис. 15.2). [c.374] Рассмотрим разрешающую способность методов РДМ, которая при изучении субструктуры определяется геометрическими условиями эксперимента. [c.374] Таким образом, увеличение линейного разрешения достигается путем уменьшения размеров источника, увеличения расстояния источник-образец (уменьшения угла сходимости y=flR) и уменьшения расстояния образец — фотопластинка. [c.375] Угловое разрешение — минимальный угол разориентации двух субзерен, при котором они дают раздельное изображение. Рассмотрим азимутальное разрешение (см. рис. 15.1). Пусть та — ширина области, отделяющей рефлексы от двух субзерен в азимутальном направлении, которая равна /Па=Виа, где Оо — угол между крайними лучами, отраженными от этих субзерен. С учетом угла сходимости Ya a i = ao,a Ya, где угол ао,а зависит только от угла разориентации. Этот угол связан с азимутальной проекцией угла между нормалями к отражающим плоскостям в соседних субзернах следующим выражением oa=ao,o/2 sin О. Отсюда (1/2 sin o) [(m /S) Y .] (15.3). [c.375] Чтобы получить изображение от субзерен, разориентированных в радиальном направлении, падающий пучок либо должен иметь большой угол сходимости Ур либо быть полихроматическим. В противном случае можно не получить отражения от одного из двух соседних субзерен. [c.376] Знак плюс в формулах (15.3) и (15.4) соответствует наличии светлой полосы между изображением соседних субзерен, а знак минус — перекрытию изображений. [c.376] Полученные формулы (15.1)—(15.4) используют для анализа субструктуры материалов с размером субзерен более 5 мкм, например в методе Берга—Баррета и его модификациях. [c.376] Для получения рентгенограмм по методу Берга—Баррета используют характеристическое излучение рентгеновской трубки с линейчатым фокусом, который располагается вдоль радиального (брэгговского) направления (уо ба и Ур бр). При съемке на отражение фотопластинку устанавливают либо параллельно поверхности образца, либо нормально отраженному от плоскостей hkl) излучению (рис. 15.4). Первичный пучок образует угол ( с отражающими плоскостями. Выведение кристалла в отражающее положение производят с помощью счетчика, располагающегося за фотопластинкой. По рентгенограмме можно судить о степени совершенства кристалла (развитости субзеренной структуры), определить размеры субзерен (зерен) при их величине более 3—5 мкм и об угле раз-ориентировки 1 угл. мин. [c.376] При определении размеров субструктуры первую съемку проводят при А, равном нескольким миллиметрам, а вторую — при А = =20-ь30 мм. По второму снимку определяют и угол разориентации между соседними субзернами. [c.377] Перспективным для изучения субструктуры кристаллов является также метод широко расходящегося пучка (см. п. 9.4). [c.377] Вернуться к основной статье