ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Анализ структурных изменений, происходящих при нагреве деформированных материалов из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" При деформации плотность дефектов кристаллического строения возрастает соответственно увеличивается внутренняя энергия материала. Поэтому наклепанное состояние термодинамически нестабильно при любой температуре. Уменьшение внутренней энергии, связанное с перераспределением или снижением плотности дефектов требует, однако, энергии активации Q. В связи с этим кинетика процессов, протекающих при нагреве деформированного металла, подчиняется уравнению типа Аррениуса t=xoexp —QjRT), где то и Q имеют различные значения для процессов, идущих (практически) при различных температурах. [c.365] При возврате происходит почти полное устранение точечных дефектов, перераспределение дислокаций, сопровождающееся уменьщением их суммарной упругой энергии (величины микродеформаций), частичная аннигиляция дислокаций разных знаков. Эти процессы обычно связывают с отдыхом. Заметное уменьщение плотности дислокаций и их перестроение с образованием и миграцией малоугловых границ определяют процессы по-лигонизации. [c.365] На рис. 14. О показано изменение профиля линии 211 стали 08Ю после холодной прокатки в зависимости от температуры нагрева. Около каждого профиля дано соответствующее значение р. Видно, что нагрев на 500 °С приводит к разрешению дублета Ка—Ка Р 0 при нагреве на 600°С, а температура начала рекристаллизации для этой стали после прокатки с обжатием 75 % составляет около 650 °С. Отношение Ргп/Рио совпадает (в пределах ошибки эксперимента) с отношением tg 02ll/tg в-цо, т. е. изменение плотности дислокаций при нагреве можно рассчитывать по формуле (14.29). [c.366] Отметим, что ориентировка зерен в процессе возврата не изменяется, т. е. текстура описывается теми же идеальными ориентировками, но рассеяние текстуры уменьшается. Поэтому изучение изменения совершенства текстуры при нагреве также может служить методом изучения возврата. [c.367] что минимальный размер выявляемого рекристаллизованного объема зависит от величины облучаемого объема V и рассеивающей способности кристалла F (структурного фактора интенсивности). Чем меньше V и больше F, тем меньше выявляемый размер рекристаллизованных зерен. В среднем он составляет 1—3 мкм. Температуру, при которой для данных условий нагрева деформированного образца на рентгенограмме появляются первые уколы, принимают за температуру начала рекристаллизации обработки Гн.р. [c.369] Изучение рекристаллизации обычно ведут в камере обратной съемки с одной диафрагмой, намеренно создавая дефокусировку, чтобы легче было заметить первые уколы. Желательно для повышения чувствительности использовать линии с большим фактором повторяемости и рентгенографировать несколько участков образца. [c.369] С повышением температуры нагрева или времени выдержки число пятен на линии растет, а фон между ними исчезает. Полное исчезновение фона (сплошной линии) соответствует окончанию рекристаллизации обработки (рис. 14.12). Более точно рекристаллизацию можно изучать, измеряя число уколов (рефлексов) на данной линии HKL. Используя подход, изложенный в п. [c.369] Изучение рекристаллизации в слабодеформирован-ных образцах затруднено из-за того, что рефлексы от деформированных и рекристаллизованных зерен не всегда различимы. В этом случае целесообразнее применять металлографический метод анализа. [c.370] Аналогичная ситуация наблюдается при рекристаллизации композитных материалов типа САП, где рост зародышей сдерживается частицами упрочняющей фазы. В случае изучения таких сплавов следует различать истинную температуру начала рекристаллизации (заро-дышеобразования) и температуру начала интенсивного роста зародышей. Последний процесс наступает при температурах, когда начинается коагуляция и обратное растворение дисперсной фазы. При обычных методах эту температуру принимают за температуру начала рекристаллизации. Истинная температура начала рекристаллизации может быть обнаружена по изменению рассеяния текстуры. [c.371] Другие методы (рентгеновские, металлографические, изменение твердости) не позволили выявить начало рекристаллизации обработки в этом сплаве. [c.372] Для изучения изменения плотности дислокаций в процессе рекристаллизации можно использовать электронную микроскопию тонких фольг, методы дифракционной микрорентгенографии (анализсубструктуры), рентгеновской топографии. Если плотность дислокаций не превосходит 10 см-2, 0 возможен анализ их с использованием эффектов экстинкции (см. п. 7.4 и п. 15.2). [c.372] При установлении оптимальных режимов обработки во всех приведенных и многих других случаях использован рентгеноструктурный анализ. [c.372] Вернуться к основной статье