ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Методы разделения вклада дисперсности и микродеформаций в физическое уширение из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" Хотя в массивных деформированных материалах уширение в большинстве случаев пропорционально tg , но если в них имеются блоки размером менее 0,15 мкм или ОУ, приводящие в соответствии с уравнением (14.22) к 0эфф 0,15 мкм, то угловая зависимость уширения также может находиться между зависимостью tgd и se 4. Во всех случаях, когда зависимость р от лежит между tg О и se О, можно определить )эфф и среднюю величину микродеформаций, выделив из физического уширения вклад от дисперсности и от микродеформаций методом гармонического анализа профиля рентгеновской линии (ГАПРЛ), методом моментов или методом аппроксимации. [c.362] В основе двух последних методов лежит модель образца (кристалла), состоящего из частиц (блоков) средним размером D по нормали к отражающей плоскости, причем каждая частица (блок) однородно упруго деформирована. Эта средняя по образцу деформация по величине (вдоль нормали к отражающей плоскости) равна е. [c.362] Метод ГАПРЛ основан на модели кристалла, состоящего из частиц (блоков) размером (по нормали к отражающей плоскости) D = ndo, где п — число ячеек размером do (межплоскостное расстояние) в частице. Средний по кристаллу размер частиц D— = iV3do=2 Pn где рп —доля частиц, содержащих п ячеек. [c.362] В двух других направлениях частица содержит Ni и N2 ячеек. Последние величины являются средними по всему образцу. [c.362] Априори нельзя утверждать, что одна из двух моделей всегда адекватна реальному кристаллу. Более реальной моделью массивного деформированного образца представляется модель на основе теории М. А. Кривоглаза. Из двух рассмотренных выше модель ГАПРЛ является более гибкой, так как учитывает распределение частиц по размерам и микродеформаций по области усреднения. [c.362] Из-за статистических ошибок счета (см. п. 9.6) коэффициенты Фурье функции f (п. 14.4) определяют с дисперсией з .(0 = = F (,t)[s J(t)/H t)+sl t) GЩ, где 2=2/т/Г-Ь/ф/Гф / -интенсивность в максимуме линии /ф — интенсивность фона Т и Тф— общее время съемки линии и фона. [c.364] Дисперсия Лд(/) и Лмкд(0 значительно больше (так как интенсивность линий вто )ого порядка в несколько раз меньше, чем первого). Поэтому на практике обычно лишь 5—7 коэффициентов дисперсности и микродеформаций превосходят шум, т. е. [Лд(/)] 2 2( ). Ясно, что использование уравнений (14.32) и (14.37) с таким числом значимых коэффициентов Фурье приведет к большой погрешности в определяемой величине. [c.364] Пусть уширение, вызванное дисперсностью и микродеформациями, описывается функциями М(20) и N(2 ). Аппроксимируя эти функции аналитическими выражениями, можно получить, используя выражение типа (14.38), связь между р, р и Рм, где Рд = л (20)Х Хй2 /Ы (0) (20) с12Ь/М (0). [c.364] что для того чтобы найти связь между 6м и Pjt [для первой и второй линии в соответствии с уравнением (14.46), анализируемые линии должны различаться лишь порядком отражения, чтобы One были одинаковы. [c.365] Возможно, правда, подобрать такую пару линий, исходя из следующих соображений если по размеру частицы не слишком анизотропны, то D слабо зависит от направления для таковых, образующих сравнительно малый угол (10—30°) друг с другом. Величину микродеформаций можно считать равной по двум направлениям, если упругие модули в этих направлениях одинаковы. Исходя из этих соображений, в качестве пары линий для о. ц. к. кристаллов можно брать линии ПО—211—321. [c.365] Те же соображения используют для выбора пары линий (если линию второго порядка трудно зарегистрировать экспериментально) при проведении анализа методами ГАПРЛ или моментов. [c.365] Вернуться к основной статье