ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Построение и анализ обратных полюсных фигур из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" Формула (13.7) не строга, так как для высокосимметричных кристаллов обычно значение п не превышает 10. Кроме того, каждому отражению приписан одинаковый вес. Для строгости выражения необходимо бесконечное число отражений п по всей области ориентаций в пределах телесного угла 4я т. е. [c.331] При использовании выражений типа (13.8) следует иметь в виду, что в расчет принимаются только отражения одного порядка от плоскостей hkl , хотя на дифрактограмме могут быть зарегистрированы отражения разных порядков от одних и тех же плоскостей. [c.332] Полученные по формуле (13.8) значения Фли наносят на стандартный стереографический треугольник около полюсов с соответствующими индексами Н, к, I я таким образом получают ОПФ (рис. 13.8). [c.332] Особой областью применения ОПФ является количественный фазовый анализ монолитных текстурованных материалов, когда вместо отношения интенсивностей двух линий (см. п. 10.3) используют отношение сумм Фнк1, определенных по ОПФ каждой фазы. Часто ограничиваются суммой взвешенных по фактору повторяемости интегральных интенсивностей всех линий каждой фазы на одной дифрактограмме и вычислением отношения этих сумм. Определение количества фазы в этом случае целесообразнее проводить по заранее построенному градуировочному графику, хотя возможно и аналитическое определение коэффициента /Сар. [c.333] Вернуться к основной статье