ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Метод широко расходящегося пучка (метод Косселя) из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" Этот метод применяют для определения с высокой точностью периодов решетки (ошибка около 0,0003 %) монокристаллов и крупнозернистых поликристаллов, а также для изучения субструктуры (углы разорнентировки между субзернами, их размеры, малая величина микродеформаций). [c.235] Съемка рентгенограмм проводится по схемам рис. 9.19, а в качестве источника рентгеновских лучей используют тонкий поверхностный слой образца, облучаемый потоком быстрых электронов или трубку с острым фокусом (около 10 мкм) и торцовым анодом. В последнем случае, когда применяют так называемый вынесенный источник, метод называют псевдокосселевским . [c.235] Так можно определить периоды кристаллической решетки с высокой точностью, не измеряя точно О, I к г —г , а лишь АЬ и Дг. Однако необходимо, чтобы рентгеновская пленка была совершенна, изотропна и строго перпендикулярна оси пучка, а деформация пленки в процессе фотообработки — минимальна. [c.237] М — расстояние между этими линиями. [c.238] Наиболее существенные ошибки определения периодов решетки по косселеграммам связаны с погрешностями а) измерения длин на пленке. Для получения погрешности около 10 нм расстояния надо измерять с точностью не менее 5 мкм и многократно б) из-за деформации пленки в процессе фотообработки. Они существенно уменьшаются при использовании для расчетов отношений длин отрезков в) из-за нагрева образца. [c.238] Для достижения точности 10 нм необходимо термостатирование. При отработанной методике метод Косселя достаточно экспрес-сен, особенно при измерениях на серии однотипных образцов. Кроме того, метод локален, так как облучаемая поверхность имеет размер 1—50 мкм( в зависимости от схемы съемки). [c.239] Очень интересен метод К. Лондсдейл, гДе прецизионность, в идеале, равна точности знания длины волны. [c.239] Применение метода Косселя для изучения субструктуры рассмотрено в гл. 15. [c.239] Вернуться к основной статье