ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Основы рентгеновской и у-дефектоскопии из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" Зависимость т/р от г (в формуле (5.3) значение п близко к 3) используется в рентгеновской дефектоскопии— просвечивании деталей рентгеновскими лучами с целью обнаружения дефектов пор, трещин, инородных включений и т. п. Для увеличения проникающей способности в дефектоскопии применяется жесткое излучение трубок (трубки с вольфрамовым анодом и 1/ до 200 кВ), бетатронов или 7-лучи радиоактивных изотопов. [c.150] На рис. 5.6 приведена принципиальная схема рентгеновского просвечивания. Та же схема (только с другим источником лучей) используется в 7-дефектоскопии. [c.151] Пусть в изделии имеется порок — включение 5, для которого линейный коэффициент ослабления лучей ц. [c.151] Таким образом, интенсивность лучей, прощедших сквозь здоровую часть изделия, будет отличаться от интенсивности лучей, на пути которых оказалось включение. [c.151] При рассмотрении рентгенограммы, снятой с тела, имеющего на поверхности выступы или впадины, следует иметь в виду, что выступы на ней изобразятся так же, как тяжелые включения, а впадины — как легкие. Поэтому при съемке разнотолщинных (фигурных) изделий их засыпают или заливают компенсатором — веществом, у которого л почти равно ц детали. Тогда рентгенограмма здоровой части будет иметь одинаковое почернение независимо от конфигурации изделия. [c.152] Очевидно, задача контроля изделий будет выполнена тем лучше, чем меньше минимальные размеры дефектов, выявляемых при рассмотрении рентгенограмм. Выраженная в процентах по отношению к толщине просвечиваемого изделия минимальная величина (в направлении луча) выявляемого по рентгенограмме дефекта называется процентуальной чувствительностью Р= 1тыЮ) X ХЮО %. Чем меньше Р, тем лучше рентгенограмма. [c.152] Основные факторы, влияю-ющие на процентуальную чувствительность плотность почернения в ответственных частях рентгенограммы (оптимум для глаза 1,2—2,0) жесткость примененного излучения (влияет на ц— х ) величина фокуса рентгеновской трубки фокусное расстояние действие вторичного (преимущественно рассеянного) излучения, возникающего при просвечивании в объекте. [c.152] Последние три фактора влияют на интенсивность фона рентгенограммы и величину полутеней у изображений дефектов. [c.152] Определение глубины залегания дефекта. Рентгенограмма, как и снимок с помощью 7-лучей, представляет линейную проекцию объема детали на плоскость рентгеновской пленки. Координаты местоположения дефекта в этой плоскости можно определить непосредственным измерением по негативу. Однако часто важно знать третью координату дефекта в направлении рентгеновского луча (т. е. расстояние дефекта от внешней поверхности детали, прилегающей к кассете с пленкой). Для этого необходимо получить на одной и той же пленке две рентге-нограмы, снятые при разном положении источника лучей. Принцип такой съемки ясен из схемы рис. 5.7. В рассматриваемом случае деталь снимают дважды, смещая рентгеновскую трубку после первого снимка в направлении, параллельном плоскости пленки, на расстояние О. При этом изображение дефекта смещается на расстояние с1. Если расстояние от фокуса трубки до фотопленки равно Я-, то высота дефекта по отношению к пленке х определяется, очевидно, из пропорции х/ Н—х) =й10. [c.153] Обе рентгенограммы можно снимать на одну и ту же пленку одновременно из двух источников излучения (например, двух рентгеновских трубок или двух ампул с радиоактивным препаратом). [c.153] Вернуться к основной статье