ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Влияние дефектов на плотность колебаний кристалла из "Физическая механика реальных кристаллов" Ограничиваясь скалярной моделью, вместо множителя ЗЛ в знаменателе следует писать N. [c.218] Реальный физический интерес обычно представляет плотность колебаний кристалла, содержащего не один, а большое число эквивалентных точечных дефектов. Именно такая величина может характеризовать макроскопические свойства кристалла. В том случае, когда среднее расстояние между дефектами велико (их концентрация мала), функция Грина для скалярной модели колебаний кристалла вычисляется по формуле (12.56). [c.218] При записи (12.66) мы ввели концентрацию дефектов с, равную отношению числа точечных дефектов к N с 1). [c.219] Результат, содержащийся в (12.72), мы уже обсуждали, поэтому перейдем к анализу плотности колебаний дефектного кристалла в интервале непрерывного спектра идеальной решетки (8i е 8 . [c.220] Выражение (12.75) описывает деформацию непрерывного спектра квадратов частот под воздействием точечных дефектов. Оно имеет нефизические особенности в точках, где нарушается аналитичность функции go (е), и последняя имеет корневые сингулярности. Но мы оговаривали применимость формулы (12.75) только вне малых окрестностей этих точек. Причина появления особенностей в (12.75) связана с тем, что для рассмотрения деформации спектра у его особых точек недостаточно использованного нами линейного по кон-центрации приближения. [c.221] Вернуться к основной статье