ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Измерение постоянной дифракционной решетки и линейной дисперсии прибора из "Спектральные приборы и техника спектроскопии" Цель работы познакомиться с техникой работы на приборе с плоской дифракционной решеткой. Изучить и измерить некоторые характеристики решетки и дифракционного спектра. [c.95] Работа выполняется на специально собранной для этой цели установке на базе камеры УФ-89 или УФ-90. Установка описана в 15. Перед выполнением работы необходимо ознакомиться с материалом, изложенным в 4. [c.95] Принцип работы плоских дифракционных решеток и их характеристики описаны во многих книгах [1, 2, 3], а также в 4 настоящего учебного пособия. Остановимся на этом вопросе в той степени, в которой это необходимо для выполнения работы на приборе. [c.95] В настоящее время наиболее часто используются решетки с 1200, 600, 300 и 200 штрихов на 1 жждля видимой, ультрафиолетовой, вакуумной и инфракрасной областей спектра. [c.95] Работу рекомендуется выполнять на установке, описанной подробно в предыдущем параграфе. Общий вид установки дан на рис. 60. Однако вторая часть задания к работе может быть выполнена и на приборах промышленного выпуска, например на спектрографах ДФС-8, ДФС-13, ДФС-28 и др. [c.96] Задание к работе состоит в следующем 1) определить постоянную решетки 2) вычислить и измерить линейную дисперсию установки в первом и во втором порядках спектра. [c.96] Способ определения постоянной решетки вытекает из основной формулы для главных максимумов отражательной дифракционной решетки (36). [c.96] Для всех других направлений угол дифракции ф отличается от угла падения о] , и его величина заключается в пределах if) а, где угол а определяется конструкцией прибора, т. е. размерами фотографической пластинки Р и фокусным расстоянием / объектива прибора. [c.97] Пусть мы наблюдаем спектр в каком-то направлении в точке А, находящейся на угловом расстоянии у от оптической оси (рис. 61). [c.97] Вычисление линейной дисперсии прибора не представляет трудностей. Расчет проводится по формуле (103) для заранее выбранных спектральных линий первого и второго порядков. [c.97] Поворачивая решетку вокруг вертикальной оси с помощью винта теодолитного столика, добиваются расположения нулевого максимума на риске матового стекла. При этом положении решетки берется отсчет по шкале теодолитного столика. [c.98] Сравниваются результаты расчета с полученными по измерениям. Оцениваются погрешности измерений. [c.98] Вернуться к основной статье