ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Некоторые данные об общем состояния электронной микроскопии из "Электронная микроскопия в физико-химических исследованиях" В развитии электронной микроскопии можно различать три периода [1]. Со времени появления первого электронного микроскопа просвечивающего типа в 1 932 г. [2] и до 1940 г. продолжался первый период, когда основное внимание было сосредоточено на улучшении конструкции приборов и разработке простейших методик препарирования. Проводившиеся исследования имели целью показать потенциальные возможности электронной микроскопии. К 1940 г. был создан прибор с разрешающей способностью около 50 А, конструкция которого в общих чертах сохранилась и до сих пор. [c.3] С 1940 г. начался второй период, характеризующийся систематическим развитием прикладной электронной микроскопии. Разрабатывалась техника приготовления препаратов и расширялся объем приложений электронной микроскопии во всех отраслях знания, связанных со структурой вещества коллоидных размеров. [c.3] В известной степени этот период продолжается и сейчас. Однако для настоящего времени более характерно такое состояние электронной микроскопии, которое можно назвать зрелостью. [c.3] В зависимости от способа исследования объектов имеются электронные микроскопы различных типов просвечивающие, отражательные, растровые, эмиссионные (в том числе элект- роннйб проекторы) и теневые. Однако наибольшее распростра- нение получили приборы просвечивающего типа, обладающие (высоким разрешением и наибольшей универсальностью применения. В данной книге рассматривается почти исключительно применение просвечивающей электронной микроскопии. [c.4] В котором ДЛЯ всех микроскопов Эльмископ I фирма гарантирует разрешающую способность лучше 15 А. Среднее значение измерений составляет 12 А, а на отдельных объектах воспроизводимо доказывается разрешение лучше 10 А. На приведенных микрофотографиях показано разрешение 8 А. Такая объективность свойственна, вероятно, не всем фирмам, и поэтому можно думать, что хотя в табл. 2 для Эльмискона I фигурирует разрешение 10—15 А, этот прибор является одним из наиболее совер шенных в настоящее время. В последнее время для определения разрешения применяют также измерение межплоскостных расстояний в кристаллических решетках некоторых соединений, например, фталоцианинов. Следует иметь в виду, что результаты, полученные обоими методами, могут не совпадать — во втором случае условия формирования изображения более благоприятны в том отношении, что не сказывается.сферическая аберрация линз [22]. [c.8] Советский электронный микроскоп УЭМБ-100 относится к приборам первого класса и на Международной выставке в Брюсселе в 1958 г. был удостоен первой премии. Как правило, чем выше класс прибора, тем более сложен он по конструкции. Для приборов 1-го и 2-го классов характерно сочетание высокого разрешения с универсальностью. Микроскопы 3-го класса сравнительно просты по конструкции и менее универсальны. [c.9] Кроме указанных линз в современные микроскопы вводят также стигматоры, представляюш,ие собой слабые цилиндрические магнитные или электростатические линзы, оптической силой и ориентацией которых можно управлять. Назначением их является подавление одного из видов осевой аберрации — приосевого астигматизма, обусловленного отступлением линз от вращательной симметрии из-за неоднородности магнитных материалов и различных загрязнений, появляющихся в микроскопе. Стигматоры располагают в объективной линзе и в слабой линзе двойного конденсора для получения круглой формы сечения пучка на объекте. [c.10] Советский электронный микроскоп на 400 кв позволяет просвечивать сравнительно толстые препараты и получать мик-родифракционные картины с участков объекта диаметром в сотые доли микрона (в микроскопах на 100 кв диаметр области микродифракции составляет около 1[л). Совокупность этих пре- имуществ делает высоковольтную электронную микроскопию весьма перспективной в физико-химических исследованиях, что показано на примерах во второй части книги. [c.10] Все это позволило проводить исследования, которые еще недавно представлялись неосуществимыми. Лимйтирующие, казалось, препятствия в действительности были временными затруднениями. Границы применения электронной микроскопии как метода исследования тонкой структуры неорганических, органических и биологических объектов значительно расширились. В настоящее время электронная микроскопия применима почти во всех тех областях, что и оптическая микроскопия. Исключением пока является лишь проблема наблюдения живых организмов, но и она, по-видимому, в скором времени будет (во всяком случае частично) разрешена при помощи газовой камеры. [c.11] Вернуться к основной статье