ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Методы и средства дефектоскопии из "Неразрушающий контроль Т5 Кн1" Физические основы. Попадание дефектного участка поверхности (риски, лунки, трещины, раковины и т.п.) в нагруженную контактную зону трибосопряжения вызывает релаксацию давления, что приводит к уменьшению толщины разделяющей поверхности смазочной пленки, возрастанию вероятности микроконтактирования деталей и, соответственно, значения параметра К. При этом степень влияния дефекта на К зависит от его вида и величины, а между его размерными параметрами (протяженность, глубина, объем) и значением К существуют однозначные монотонные зависимости (рис. 6.15). [c.530] Это явление положено в основу электрических методов дефектоскопии, которые применительно к подшипникам качения обеспечивают обнаружение регламентированных НТД повреждений рабочих поверхностей колец и тел качения как отдельного подшипника, так и опоры качения узла с глубиной поиска до поврежденного тела качения и местоположения дефекта на дорожке качения каждого из колец в условиях рабочего и тестового контроля. [c.530] Специфика электрорезистивных методов (отсутствие первичного преобразователя, совершающего перемещения относительно контролируемой поверхности при сканировании) и ОК (контролируемые поверхности при работе подшипника совершают сложные относительные перемещения) обусловливает специфику принципов локализации зоны контроля на исследуемой поверхности и сканирования. [c.531] Алгоритмы контроля подразделяются на рабочие (пассивные) и тестовые (активные), на алгоритмы с непрерывным последовательным, дискретным зональным и дискретным зонально-селективным сканированием (рис. 6.18). [c.532] При реализации непрерывного последовательного сканирования путем изменения взаимного положения исследуемой поверхности и вектора нагрузки с постоянной скоростью сканирования со , осуществляют перемещение зоны контроля по этой поверхности при непрерывной регистрации контролируемого параметра К (О- О наличии дефекта судят по характерному увеличению (всплеску) параметра (Кд) относительно фонового уровня (Кф), о его местоположении - по координате всплеска, соответствующей расположению дефекта на линии действия нагрузки, а о размерах дефекта - по величине всплеска. На рис. 6.19 в качестве иллюстрации представлены примеры характерных диаграмм К (/) при поиске дефектов рабочих поверхностей бывших в эксплуатации подшипников (алгоритм непрерывного последовательного сканирования за счет изменения положения контролируемой поверхности относительно ) и фотографии выявленных дефектов. [c.532] Выбор базового алгоритма осуществляется в зависимости от конструктивных особенностей ОК, этапа контроля и требуемых его показателей с учетом рекомендаций табл. 6.1. [c.533] Средства поиска дефектов включают, как правило, электронные устройства (приборы и системы) для сбора и анализа измерительной информации о флуктуирующем значении контролируемого параметра и стендовое оборудование для привода и требуемого нагружения ОК (при рабочем контроле стендовое оборудование может отсутствовать). На рис. 6.20 в качестве примера представлены структурные схемы некоторых из них. [c.536] Обязательным элементом электронных устройств является цепь формирования электрического сигнала, несущего информацию о значении контролируемого параметра НИВ (К). Цепь включает источник постоянного электрического напряжения 4, формирователь импульсов 5 и осуществляющие контакт с подвижными деталями ОК токосъемники 6. Она преобразует импульсы проводимости ОК 1 при микроконтактировании в прямоугольные импульсы напряжения той же длительности с уровнем логической единицы на выходе формирователя 5. Сигнал, пропорциональный параметру К, формируется с помощью счетчика 7, временного селектора 5 и генератора опорной частоты 9 или путем аналогового интегрирования импульсов напряжения блоком 25. [c.536] Вернуться к основной статье