ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Структурные помехи из "Неразрушающий контроль Т3" Структурные помехи связаны с рассеянием УЗ на структурных неоднородностях, зернах материала. Их часто называют структурной реверберацией. Материалы, состоящие из крупных сильно отражающих ультразвук зерен (например, литая нержавеющая сталь), дают сигналы, похожие на сигналы от дефектов. Такие материалы контролировать эхометодом удается только с применением компьютерной обработки сигналов (см. разд. 2.2.4.5). [c.201] Если помехи образуются в результате сложения слабых отражений от большого количества мелких зерен, то на экране они изображаются в виде большого количества импульсов, беспорядочно изменяющихся по амплитуде и положению на линии развертки при движении преобразователя по поверхности изделия. Их часто называют травой . Ниже рассматриваются главным образом именно такие структурные помехи. [c.201] Статические закономерности формирования структурных помех. Импульсы, образовавшиеся в результате рассеяния УЗ на различных неоднородностях, которые приходят к приемнику в один и тот же момент времени, складываются. В зависимости от случайного соотношения фаз отдельных импульсов они могут взаимно усилить или ослабить друг друга. В результате на экране прибора структурные помехи имеют вид отдельных близко расположенных пиков ( травы ), на фоне которых затруднено наблюдение полезного сигнала (см. рис. 2.12, где трава меньше полезных сигналов). Иногда амплитуда пиков превышает донный сигнал, что исключает возможность применения эхометода без использования специальных способов обработки информации (см. разд. [c.201] Фазы импульсов, создающих структурные помехи, распределяются случайным образом, поэтому амплитуда структурных помех на преобразователе в некоторый определенный момент времени равновероятно имеет положительное или отрицательное значение, а среднее значение амплитуды равно нулю. Дефектоскоп регистрирует не знак, а абсолютную величину амплитуды, поэтому средний уровень помех определяется средним квадратическим значением амплитуды, которое пропорционально квадратному корню из средней интенсивности помех [132]. В дальнейшем будем рассматривать интенсивность помех и лишь при сравнении помех с полезными сигналами переходить к амплитуде. [c.202] При выводе формул (2.13) и (2.14) был сделан ряд допущений. Предполагалось, что Аг г, что излучение происходит в полубесконечное пространство со статистически однородной структурой (т. е. нет зон с сильно отличающейся структурой), что рассеяние изотропно по всем направлениям и что оно от каждого кристаллита начинается в момент поступления к нему излученного импульса и кончается одновременно с его окончанием. [c.202] Явлением многократного рассеяния пренебрегают, когда 8р X 0,02 (условие В.Н. Данилова). Если это условие нарушается в 3 - 5 раз, то повторное рассеяние превалирует и почти вся картина распределения помех на линии развертки дефектоскопа формируется в результате многократного рассеяния импульсов в зоне крупнозернистого материала, расположенной вблизи преобразователя. [c.203] Уровень структурных помех на экране дефектоскопа. ПЭП - линейный преобразователь сигналов, поэтому на экране дефектоскопа наблюдают средний уровень структурных помех, определяемый теми же формулами (2.13) и (2.14). Однако при контактном способе контроля необходимо учитывать особенности прохождения структурных помех и эхосигналов от дефектов через тонкий слой контактной жидкости. [c.203] Амплитуда эхосигналов от дефектов очень сильно зависит от соотношения толщины слоя и длины волны в нем (см. разд. 1.1.4). В результате интерференции волн в слое коэффициент прозрачности изменяется в десятки раз. Однако этот вывод в разд. 2.2.1.2 был сделан для непрерывного излучения, и отмечено, что импульсный характер излучения сглаживает осцилляции зависимости В от толщины слоя. [c.203] Структурные помехи - основной постоянно действующий фактор, ограничивающий чувствительность контроля. Способы борьбы с ними будут рассмотрены в разд. 2.2.4.5 и 4.15. [c.203] Вернуться к основной статье