ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Практическое значение представлений о гибкости цепи из "Физикохимия полимеров" Гибкость цепи —это один из основных признаков, КОТО может быть положен в основу деления полимеров на два болы класса каучукоподобные полимеры и пластические массы. [c.96] НЫМИ полимерами. Эти полимеры имеют гибкие цепи и поэтому легко кристаллизуются. Такие полимеры в кристаллическом состоянии — пластические массы, в аморфном —каучукоподобные полимеры. [c.97] Влияние кристаллической структуры на свойства полимеров рассматривается в последующих главах. [c.97] Волькенштейн, Конфигурационная статистика полимерных цепей. [c.97] Волькенштейн Молекулы и жизнь. Изд. Наука . Москва. 1965 Л- Манделькерн. Кристаллизация полимеров. Изд. Химия , 1966. [c.97] Хччическне методы всегда связаны с деструкцией полимеро, При использовании спектроскопических методов разрушения М3 ромолекулы ие происходит. Это является важным преимущество спектроскопических методов по сравнению с химическими. [c.98] Результаты хцми теских и спектроскопических исследований П( лимеров изложены во многих руководствах - , в связи с чем в да) ной книге не рассматриваются. Методы определения молекуля ного веса и формы молекул полимеров описаны в гл. ХУН1. [c.98] Настоящая глава посвящена методам исследования структур полимеров, которая в значительной степени определяет физич ские свойства готовых изделий. [c.98] Наиболее важными методами изучения структуры полимеров являются рентгенография (электронография) и электронная микроскопия. Большое значение имеют методы двойного лучепреломления и определения плотности полимеров. [c.99] Рентгеновские лучи представляют собой электромагнитные волны длиной порядка нескольких ангстрем. Если пучок таких лучей направить на монокристалл, то произойдет дифракция и, помимо первичного пучка лучей, направленного на кристалл, возникнет ряд дифрагированных лучей. ЛтомЬ и молекулы располагаются в кристалле строго закономерно, образуя трехмерную пространственную решетку. Наименьший кирпич , из которого строится пространственная регнетка, называется элементарной ячейкой кристалла. Размеры элементарной ячейки имеют тот же порядок величин, что н длина волны рентгеновских лучей. Это дает возможность наблюдать дифракцию рентгеновских лучей в кристаллах и использовать это явление для изучения их Структуры. [c.99] Направление и иитенсивиость лучей, возникающих при дифракции, регистрируют Счетчиком рентгеновских квантов или фотографическим способом. При фотографическом способе регистрации иа специальной рентгеновской пленке в месте попадания иа нее дифрагированного луча возникает (на негативе) почернение — лекс Положение рефлекса иа рентгенограмме характеризует направление дифрагированного луча степень почернения определяется иитенсивиостью луча. Для расчета направлений дифрагированных лучей применяют уравнение Вульфа — Брэгга. Рассмотрим это уравнение. [c.99] Слоевая линия, проходящая через первичный пучок, называете нулевой Слоевой линией, следующая — первой слоевой линие и т д. [c.100] Изучение дифракции рентгеновских лучей на кристаллах Пр1 вело к созданию метода исследования атомного строения кристам лов Методами рентгеноструктурного анализа же успешно ра шифрованы структуры большого числа кристаллов Методик определения структуры также детально разработана - . [c.102] 1Я решения задач второго этапа структурного анализа необходимы данные об интенсивностях возможно большего числа рефлексов Обычно исследователь располагает данными об интенснв-иосгях нескольких сот рефлексов. При наличии большого числа рефлексов и выполнении ряда других условий точность определения координат атомов может быть доведена до 0,01—0,03А. [c.103] Вернуться к основной статье