ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Атомная силовая микроскопия из "Аналитическая химия Том 2" Метод АСМ принадлежит к группе методов сканирующей силовой микроскопии (ССМ), основанных на измерении различных сил (например, притяжения, отталкивания, магнитных, электростатических и вандерваальсовых). Наряду с СТМ атомная силовая микроскопия, предложенная в 1986 году [10.5-11], является важнейшим и наиболее широко используемым методом сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). [c.374] Так же как и в СТМ, в методе АСМ можно работать в двух различных режимах режиме постоянной силы или режиме постоянной высоты. В режиме постоянной силы отклонение кантилевера (и, следовательно, величина силы) поддерживается постоянной при помощи перемещения образца в вертикальном направлении в соответствии с топографией поверхности. В этом режиме можно получить изображения больших и достаточно грубых участков образца без разрушения иглы и/или поверхности образца. В режиме постоянной высоты вертикальная позиция образца постоянна и регистрируется меняющееся отклонение кантилевера. В этом режиме можно достичь более высоких скоростей сканирования, что выгодно для устранения термических сдвигов при получении изображения с высоким разрешением. Однако следует избегать больших областей сканирования, поскольку становятся возможными эффекты разрушения иглы и/или поверхности. [c.376] Щ 4 бочий диапазон АСМ находится в интервале между 3 и 4. [c.376] В качестве одной из важных групп образцов, которые можно легко анализировать методом АСМ и которые очень важны для промышленности, следует упомянуть стекла. На рис. 10.5-12 приведен пример, который мы будем обсуждать в связи с получением изображений in situ. Здесь следует упомянуть, что такую информацию о топографии подобных образцов нельзя получить напрямую другими методами, поскольку в случае АСМ изображение можно получить без специальной пробоподготовки. [c.380] Хо-гя область использования АСМ все еще развивается, большой потенциал этого метода для множества применений от материаловедения до биологии уже хорошо освещен в литературе. С аналитической точки зрения особый интерес представляет получение изображения in situ, поскольку это очень важно для исследования технологических процессов, например коррозии. [c.380] Хотя нет сомнения в высоком аналитическом потенциале АСМ, следует упомянуть, что возможны также различные артефакты, например искривление поверхности под действием геометрии острия (так, структуры более острые, чем острие, приведут в результате к изображению острия) или разрушение чувствительной поверхности под действием нагрузки острия. Это следует учитывать при проведении экспериментов. Однако метод АСМ стремительно развивается, так как он еще относительно молодой. [c.383] Хотя область силовой микроскопии все еще быстро развивается, АСМ уже стала мощным средством анализа морфологии поверхности и изучения процессов, происходящих на поверхности. Все возрастающая важность этого метода для аналитической химии очевидна. [c.384] Вернуться к основной статье