ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Исследование надмолекулярной структуры из "Химия и физика полимеров" Сканирующая электроЕ1ная микроскопия (СЭМ) позволяет получить изображение микроскопической поверхностной области образца, причем воз-можно получение трехмерного изображения. СЭМ дает увеличение 20— 100 000 раз (чаще всего 20 000—50 000). Разрешающая способность СЭЛ1 несколько меньше ПЭ.М и составляет С 10 нм. Поскольку для СЭЛ не требуется специально готовить образцы, этот метод находит все более широкое применение для изучения морфологии надмолекулярных образований кристаллических и аморфных полимеров. [c.86] Вернуться к основной статье