ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Параметры решетки и число формульных единиц в ячейке из "Основы структурного анализа химических соединений 1982" Параметры элементарной ячейки а, Ь, с входят непосредственно в условия Лауэ. Поэтому их легко определить по положению дифракционных рефлексов на рентгенограммах. [c.66] Точность определения периодов повторяемости этим методом невысока. Но его преимущество заключается в том, что для нахождения параметров не требуется знания всех трех индексов каждого рефлекса. [c.67] С другой стороны, даже грубая оценка параметров решетки существенно облегчает индицирование рентгенограмм (в особенности рентгеигониометрических снимков) или установку кристалла и счетчика дифрактометра в отражающее положение для разных отражений pqr. Затем можно уточнить параметры решетки, используя координаты (в случае дифрактометра — установочные углы) наиболее дальних рефлексов дифракционных лучей с высокими индексами pqr. [c.67] По геометрии размещения рефлексов на рентгенограммах можно оценить и угловые параметры решетки. Последнее существенно только при исследовании моноклинных и триклинных кристаллов. [c.67] Экспериментально определяемая плотность (например, пикнометрическим или флотационным методом) относится к реальному кристаллу, имеющему трещины и другие дефекты. Обычно она несколько ниже плотности идеального кристалла, и поэтому формула (22), как правило, дает несколько заниженный (нецелочисленный) результат. [c.68] Подставляя затем вместо N целое число, по формуле (22) можно оценить рреит — плотность идеального монокристалла. Эта величина является важным параметром для ряда технических применений кристаллов, например для оценки эффективности энергоемких систем. [c.68] Вернуться к основной статье